2026-08-26
JEOL JEM-F200 Multipurpose TEM 配置选型、验收指标与代理采购沟通
JEOL JEM-F200 Multipurpose TEM 面向扫描电镜、透射电镜、冷冻电镜与 FIB-SEM 平台，说明配置选型、验收指标与代理采购沟通，覆盖纳米材料形貌观察、半导体截面和缺陷复检、催化剂与电池材料分析等真实应用，并把样品、指标、配置和验收问题整理为采购前可核对的技术资料。
共 617 篇
2026-08-26
JEOL JEM-Z300FSC CRYO ARM 300 原理、成像模式与关键指标
JEOL JEM-Z300FSC CRYO ARM 300 面向扫描电镜、透射电镜、冷冻电镜与 FIB-SEM 平台，说明原理、成像模式与关键指标，覆盖纳米材料形貌观察、半导体截面和缺陷复检、催化剂与电池材料分析等真实应用，并把样品、指标、配置和验收问题整理为采购前可核对的技术资料。
2026-08-26
JEOL JEM-Z300FSC CRYO ARM 300 应用场景、样品流程与上机验证
JEOL JEM-Z300FSC CRYO ARM 300 面向扫描电镜、透射电镜、冷冻电镜与 FIB-SEM 平台，说明应用场景、样品流程与上机验证，覆盖纳米材料形貌观察、半导体截面和缺陷复检、催化剂与电池材料分析等真实应用，并把样品、指标、配置和验收问题整理为采购前可核对的技术资料。
2026-08-26
JEOL JEM-Z300FSC CRYO ARM 300 配置选型、验收指标与代理采购沟通
JEOL JEM-Z300FSC CRYO ARM 300 面向扫描电镜、透射电镜、冷冻电镜与 FIB-SEM 平台，说明配置选型、验收指标与代理采购沟通，覆盖纳米材料形貌观察、半导体截面和缺陷复检、催化剂与电池材料分析等真实应用，并把样品、指标、配置和验收问题整理为采购前可核对的技术资料。
2026-08-26
JEOL JIB-4700F MultiBeam System 原理、成像模式与关键指标
JEOL JIB-4700F MultiBeam System 面向扫描电镜、透射电镜、冷冻电镜与 FIB-SEM 平台，说明原理、成像模式与关键指标，覆盖纳米材料形貌观察、半导体截面和缺陷复检、催化剂与电池材料分析等真实应用，并把样品、指标、配置和验收问题整理为采购前可核对的技术资料。
2026-08-26
JEOL JIB-4700F MultiBeam System 应用场景、样品流程与上机验证
JEOL JIB-4700F MultiBeam System 面向扫描电镜、透射电镜、冷冻电镜与 FIB-SEM 平台，说明应用场景、样品流程与上机验证，覆盖纳米材料形貌观察、半导体截面和缺陷复检、催化剂与电池材料分析等真实应用，并把样品、指标、配置和验收问题整理为采购前可核对的技术资料。
2026-08-26
JEOL JIB-4700F MultiBeam System 配置选型、验收指标与代理采购沟通
JEOL JIB-4700F MultiBeam System 面向扫描电镜、透射电镜、冷冻电镜与 FIB-SEM 平台，说明配置选型、验收指标与代理采购沟通，覆盖纳米材料形貌观察、半导体截面和缺陷复检、催化剂与电池材料分析等真实应用，并把样品、指标、配置和验收问题整理为采购前可核对的技术资料。
2026-08-26
Keyence VR-6000 3D Optical Profilometer 原理、成像模式与关键指标
Keyence VR-6000 3D Optical Profilometer 面向工业材料 3D 显微与表面测量平台，说明原理、成像模式与关键指标，覆盖失效分析和来料检测、焊点、裂纹和污染物观察、粗糙度和台阶高度测量等真实应用，并把样品、指标、配置和验收问题整理为采购前可核对的技术资料。