JSM-7200F
JEOL JSM-7200F 肖特基场发射扫描电子显微镜
JEOL JSM-7200F FE-SEM 属于电镜/Cryo-EM/FIB-SEM高端产品池，适合结构生物学平台、材料学院、半导体失效分析、先进制造研发中心。典型应用包括蛋白结构解析、纳米材料形貌分析、截面制样、半导体失效分析。该型号用于显微与成像平台转型上架，建议销售前复核授权、供货周期、配置清单和正式技术参数。
品牌JEOL
型号JSM-7200F
系统类型肖特基场发射扫描电子显微镜
JIB-4700F MultiBeam
JEOL JIB-4700F MultiBeam FIB-SEM 双束系统
JEOL JIB-4700F MultiBeam System 属于电镜/Cryo-EM/FIB-SEM高端产品池，适合结构生物学平台、材料学院、半导体失效分析、先进制造研发中心。典型应用包括蛋白结构解析、纳米材料形貌分析、截面制样、半导体失效分析。该型号用于显微与成像平台转型上架，建议销售前复核授权、供货周期、配置清单和正式技术参数。
品牌JEOL
型号JIB-4700F MultiBeam
系统类型FIB-SEM 多束系统
JIB-PS500i
JEOL JIB-PS500i FIB-SEM 双束系统
JEOL JIB-PS500i FIB-SEM 属于电镜/Cryo-EM/FIB-SEM高端产品池，适合结构生物学平台、材料学院、半导体失效分析、先进制造研发中心。典型应用包括蛋白结构解析、纳米材料形貌分析、截面制样、半导体失效分析。该型号用于显微与成像平台转型上架，建议销售前复核授权、供货周期、配置清单和正式技术参数。
品牌JEOL
型号JIB-PS500i
系统类型FIB-SEM 双束系统
GeminiSEM 560
ZEISS GeminiSEM 560 超高分辨率场发射扫描电子显微镜
蔡司GeminiSEM系列高端场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)，搭载Gemini电子光学镜筒，可在1kV以下实现亚纳米级分辨率成像，兼具优异表面灵敏度与高分辨率成像。系列涵盖360/460/560三款机型，可扩展EDS、EBSD、cECCI晶体缺陷表征、三维STEM断层扫描及原位实验等多项功能。设备不仅服务于能源电池、工程材料、催化剂、纳米科学、地质学等材料科学和工业制造领域，还可搭建专业体电镜、光电关联解决方案，充分匹配生命科学、生物制药领域的研究需求，全面覆盖从常规表征到前沿研发的全流程检测分析工作，广泛应用于高校科研院所和工业检测。
品牌ZEISS
型号GeminiSEM 560
系统类型超高分辨率场发射扫描电子显微镜
GeminiSEM 460
ZEISS GeminiSEM 460 分析型场发射扫描电子显微镜
蔡司GeminiSEM系列高端场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)，搭载Gemini电子光学镜筒，可在1kV以下实现亚纳米级分辨率成像，兼具优异表面灵敏度与高分辨率成像。系列涵盖360/460/560三款机型，可扩展EDS、EBSD、cECCI晶体缺陷表征、三维STEM断层扫描及原位实验等多项功能。设备不仅服务于能源电池、工程材料、催化剂、纳米科学、地质学等材料科学和工业制造领域，还可搭建专业体电镜、光电关联解决方案，充分匹配生命科学、生物制药领域的研究需求，全面覆盖从常规表征到前沿研发的全流程检测分析工作，广泛应用于高校科研院所和工业检测。
品牌ZEISS
型号GeminiSEM 460
系统类型分析型高分辨率场发射扫描电子显微镜
GeminiSEM 360
ZEISS GeminiSEM 360 场发射扫描电子显微镜
蔡司GeminiSEM系列高端场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)，搭载Gemini电子光学镜筒，可在1kV以下实现亚纳米级分辨率成像，兼具优异表面灵敏度与高分辨率成像。系列涵盖360/460/560三款机型，可扩展EDS、EBSD、cECCI晶体缺陷表征、三维STEM断层扫描及原位实验等多项功能。设备不仅服务于能源电池、工程材料、催化剂、纳米科学、地质学等材料科学和工业制造领域，还可搭建专业体电镜、光电关联解决方案，充分匹配生命科学、生物制药领域的研究需求，全面覆盖从常规表征到前沿研发的全流程检测分析工作，广泛应用于高校科研院所和工业检测。
品牌ZEISS
型号GeminiSEM 360
系统类型高分辨率场发射扫描电子显微镜
Sigma 560
ZEISS Sigma 560 场发射扫描电子显微镜
蔡司场发射扫描电子显微镜Sigma系列，具有高质量的成像和分析能力，将先进的场发射扫描电子显微镜技术与优秀的用户体验完美结合。其直观的4步工作流程，在更短的时间内获得更多的数据，提高测试与生产效率。结合蔡司原位电镜实验平台，可以实现自动智能化的原位实验工作流程，高效率获取高通量、高质量的原位实验数据。领先的EDS几何设计保证了出色的元素分析性能，分析速度高、精度好、结果可靠。高分辨、全分析、多扩展、强智能、广应用，全新Sigma系列是助力于材料研究、生命科学和工业检测等领域的“多面手”。系列含两款机型：Sigma 360和Sigma 560。可选配多种探测器，以满足半导体、能源等新材料、磁性样品、生物样品、地质样品等不同的应用需求，满足高校、科研院所、工业制造企业等机构多样化需求。
品牌ZEISS
型号Sigma 560
系统类型场发射扫描电子显微镜
ZEISS EVO 25
蔡司EVO扫描电子显微镜
蔡司钨灯丝扫描电镜EVO系列，作为高性能的扫描电子显微镜，可为显微镜专家和新用户带来直观、简便的使用体验。该系列有丰富的配件选项，无论是应用在材料科学，工业测量生命科学，生物医药等领域，都可以根据您的需求量身定制。且具有超大样品舱室、自动化工作流程以及简单易用等特点，是实验室日常检测、工业常规质量控制和失效分析等领域必不可少的综合型显微分析设备。 系列包含EVO 10(入门分析)、EVO 15(多功能检测)、EVO 25(大样品解决方案)三款机型。可满足于半导体器件厂商、高校、金属钢铁、电池能源企业等机构客户多样化需求。
品牌ZEISS
型号EVO 25
系统类型大样品常规扫描电子显微镜
ZEISS Crossbeam 550
蔡司Crossbeam 550 FIB-SEM | 先进样品制备
蔡司Crossbeam 550是兼顾高分辨率成像与精准FIB加工的全能型扫描电镜，支持快速切割和低电压精细处理，显著减少样品损伤并制备高质量TEM薄片，自动化工作流可大幅提升检测效率。通过加装飞秒激光模块，Crossbeam的加工效率和尺度可进一步拓展，同时可以满足多种微纳加工需求。产品可服务于半导体、金属钢铁、新材料及高校测试机构等客户，可高效完成半导体先进封装分析、锂电池材料表征、工程材料失效检测、微纳加工及生物组织三维重建，是科研院所与工业实验室通用的高性价比样品制备与分析工具。生命科学领域可温和处理细胞、组织样本，依托低损伤离子束切割技术完成靶向制样与三维超微结构重构；亦可在冷冻下温和的处理细胞、组织样本，配合光电关联，完成靶向制样，定位于亚细胞器。
品牌ZEISS
型号Crossbeam 550
系统类型高分辨率 Ga FIB-SEM 双束系统
ZEISS Crossbeam 350
蔡司Crossbeam 350 FIB-SEM | 灵活成像与样品制备
蔡司Crossbeam 350是专为多用户共享平台打造的灵活型FIB-SEM聚焦离子束双束电镜，可为科研和工业工作流提供可靠的高分辨率成像分析、TEM样品制备以及灵活的配置方案。独特的无漏磁电子镜筒实现真正边切边看，低电压下获得高分辨率电子图像，可实现大尺寸到纳米精度的切割。通过加装飞秒激光模块，Crossbeam的加工效率和尺度可进一步拓展，同时可以满足多种微纳加工需求。适配高校分析测试平台、科研院所、半导体工厂、电池企业等各类客户，可完成半导体失效分析、锂电池隔膜表征、复合材料三维断层扫描、生物样品低电压SEM显微成像以及高质量TEM薄片制样。
品牌ZEISS
型号Crossbeam 350
系统类型Ga FIB-SEM 双束系统
ZEISS Xradia 620 Versa X-ray Microscope
蔡司Versa高级三维X射线显微镜（XRM）
蔡司Versa系列X射线显微镜(XRM)，亚微米级三维X射线无损扫描成像解决方案，凭借创新的X射线源加光学放大量级成像架构与RaaD大工作距离高分辨率技术，突破传统microCT技术局限，在大工作距离下也能实现450-500nm的真实空间分辨率。系列包含三款机型：VersaXRM 730、VersaXRM 615、Xradia 515 Versa。搭载AI驱动的 DeepRecon Pro深度学习重建技术与ZEN navx智能导航系统。利用快速扫描模式Fast mode可实现一分钟快速采集扫描，支持4D原位动态观测与多尺度关联成像。广泛应用于材料科学(能源材料/金属材料/复合材料/高分子材料/陶瓷/仿生和生物医用材料等)、半导体封装失效分析、电池研究和检测、增材制造检测、地质油气、古生物、工业质量控制、生物制药及生命科学领域，为前沿科研探索与工业检测提供坚实技术支撑。
品牌ZEISS
型号Xradia 620 Versa
系统类型高通量实验室三维 X 射线显微镜（XRM）
ZEISS Xradia 610 Versa X-ray Microscope
蔡司Versa高级三维X射线显微镜（XRM）
蔡司Versa系列X射线显微镜(XRM)，亚微米级三维X射线无损扫描成像解决方案，凭借创新的X射线源加光学放大量级成像架构与RaaD大工作距离高分辨率技术，突破传统microCT技术局限，在大工作距离下也能实现450-500nm的真实空间分辨率。系列包含三款机型：VersaXRM 730、VersaXRM 615、Xradia 515 Versa。搭载AI驱动的 DeepRecon Pro深度学习重建技术与ZEN navx智能导航系统。利用快速扫描模式Fast mode可实现一分钟快速采集扫描，支持4D原位动态观测与多尺度关联成像。广泛应用于材料科学(能源材料/金属材料/复合材料/高分子材料/陶瓷/仿生和生物医用材料等)、半导体封装失效分析、电池研究和检测、增材制造检测、地质油气、古生物、工业质量控制、生物制药及生命科学领域，为前沿科研探索与工业检测提供坚实技术支撑。
品牌ZEISS
型号Xradia 610 Versa
系统类型实验室三维 X 射线显微镜（XRM）