JEOL JIB-4700F MultiBeam FIB-SEM 双束系统

产品概述

JEOL JIB-4700F MultiBeam FIB-SEM 双束系统是一款面向科研与工业表征的FIB-SEM 多束系统。系统围绕高质量成像、稳定分析和可重复工作流程设计，可根据样品类型与研究目标组合相应探测器和分析附件。

核心特点

• SEM 电子源：In-lens Schottky 场发射源。
• 低电压分辨率：1.6 nm @ 1 kV。
• 最大探针电流：300 nA。
• 物镜：混合锥形物镜。
• 减速模式：支持 GENTLEBEAM 模式。

典型应用

适用于半导体截面与失效分析、TEM 薄片制备、微纳加工及材料三维结构重构。

选型提示

建议根据目标分辨率、样品尺寸与导电性、低电压或低真空需求、每日样品量，以及 EDS、EBSD、STEM 或自动化功能确定具体配置。涉及不同镜筒、物镜或历史型号时，应按具体版本核对。