
Hitachi High-Tech SU8700 FE-SEM
超高分辨肖特基场发射扫描电子显微镜SU8700 : 日立高新技术在中国
随着快速数据采集和数据处理技术的发展,电子显微镜进入了一个不仅重视数据质量,而且注重其采集过程的时代。SU8700作为一款面向新时代的SEM,在日立电镜贯有的高图像质量和高稳定性的基础上,增加了包括自动获取数据等高通量的功能。

Hitachi High-Tech SU8700 FE-SEM
随着快速数据采集和数据处理技术的发展,电子显微镜进入了一个不仅重视数据质量,而且注重其采集过程的时代。SU8700作为一款面向新时代的SEM,在日立电镜贯有的高图像质量和高稳定性的基础上,增加了包括自动获取数据等高通量的功能。

Hitachi High-Tech SU8600 FE-SEM
随着快速数据采集和数据处理技术的发展,电子显微镜进入了一个不仅重视数据质量,而且重视其采集过程的时代。SU8600系列秉承了Regulus8200系列的高质量图像、大束流分析及长时间稳定运行的冷场成像技术,同时还大大提升了高通量、自动数据获取能力。

Hitachi High-Tech SU7000 FE-SEM
SU7000采用全新设计的电子光学系统和检测系统,可同时采集二次电子和背散射电子等多种信号,迅速获取从大视野全貌图到表面细微结构等样品信息,最多可同时显示/保存6通道信息,真正实现了成像能力的最大化。

Hitachi High-Tech SU5000 FE-SEM
The SU5000 is an innovative analytical field-emission SEM for a simple transition between high vacuum and variable pressure mode, controlled via EM Wizard, a knowledge-based system for SEM imaging.

Hitachi High-Tech SU3900 VP-SEM
SU3900/SU3800 SE系列作为FE-SEM产品,配置超高分辨率与观察能力,而且不像部分SEM产品,受安装样品尺寸与重量的限制,此系列可以通过简单的操作实现数据采集。

HF5000
结合高分辨率 TEM/STEM 成像与分析能力的场发射透射电子显微镜。

HT7800 系列
面向常规生物与材料研究的高对比度透射电子显微镜系列。



MIRA XMU
面向研究与工业分析的场发射扫描电子显微镜,支持灵活的成像和分析配置。

AMBER X
利用等离子体离子束提升大体积材料去除与三维表征效率的 FIB-SEM 平台。

SOLARIS X
面向半导体与先进材料研究的高分辨率双束 FIB-SEM 平台。