
产品简介
随着快速数据采集和数据处理技术的发展,电子显微镜进入了一个不仅重视数据质量,而且重视其采集过程的时代。SU8600系列秉承了Regulus8200系列的高质量图像、大束流分析及长时间稳定运行的冷场成像技术,同时还大大提升了高通量、自动数据获取能力。
产品概述
Hitachi SU8600 是采用冷场发射电子源的超高分辨扫描电子显微镜,重点面向低加速电压下的精细形貌观察、自动化多区域采集和高稳定性研究任务。冷场发射源的高亮度与窄能量展宽有利于呈现纳米尺度表面细节。
核心特点
- 高亮度冷场发射电子源在低加速电压条件下保持良好的空间分辨能力。
- 15 kV 下分辨率可达 0.6 nm;配合减速模式,1 kV 下可达 0.7 nm。
- 半内透镜物镜与 ExB 柱内检测系统提高短工作距离下的信号收集效率。
- 支持自动调焦、自动像散校正、自动亮度与对比度调整及多区域批量采集。
- 可选柱内中置探测器等信号通道,用于区分形貌与成分信息。
典型应用
适用于半导体纳米结构、先进材料、薄膜与涂层、催化剂、微纳器件以及需要大批量重复成像的数据驱动研究。
选型提示
SU8600 侧重冷场发射高分辨成像且不提供可变压力模式;选型时应确认样品导电处理、工作距离、分析附件和自动批量采集方案。
| 参数项 | 数值 |
|---|---|
| 品牌 | Hitachi High-Tech |
| 型号 | SU8600 |
| 系统类型 | 场发射扫描电子显微镜 |
| 电子源 | 冷场发射电子源(CFE) |
| 空间分辨率 | 0.6 nm @ 15 kV;减速模式 0.7 nm @ 1 kV |
| 放大倍率 | 20×–2,000,000× |
| 加速电压 | 0.5–30 kV |
| 最大探针电流 | 依工作条件与配置 |
| 标准探测器 | ExB 柱内检测;IMD 等探测器可选 |
| 样品台 | 五轴电动自动样品台 |
| 最大样品尺寸 | 适用于高分辨成像及自动多区域采集 |
| 低真空模式 | 不支持 VP 模式 |
品牌Hitachi High-Tech型号Hitachi High-Tech SU8600 FE-SEM
