
AMBER
TESCAN AMBER 高分辨率 FIB-SEM
面向高分辨率成像、截面制备和三维材料表征的聚焦离子束扫描电镜平台。
品牌TESCAN
型号AMBER
系统类型高分辨率 Ga FIB-SEM 双束系统

AMBER
面向高分辨率成像、截面制备和三维材料表征的聚焦离子束扫描电镜平台。

EM-30AX Plus
将台式扫描电镜与能谱分析整合于同一平台,支持形貌观察与元素分析。


SNE-4500M Plus
面向材料、电子与工业检测的高分辨率桌面扫描电子显微镜。


BioContinuum
用于提升 TEM 图像对比度并支持冷冻电镜直接电子探测工作流的柱后成像能量过滤系统。

CRYO ARM 300(JEM-Z300FSC)
集成冷场发射电子源、能量过滤与自动样品交换能力的 300 kV 冷冻透射电子显微镜平台。

Dimension Icon
兼具低噪声、低漂移和开放式样品操作空间的大样品原子力显微镜。

Dimension XR
针对纳米力学、纳米电学和纳米电化学研究配置的 Dimension 系列平台。

Dimension FastScan
兼顾高速成像、分辨率与力控制的大样品原子力显微镜平台。

Dimension Edge
面向大样品表面形貌和纳米尺度材料性质分析的研究级原子力显微镜。