
产品简介
面向大样品表面形貌和纳米尺度材料性质分析的研究级原子力显微镜。
产品概述
面向大样品表面形貌和纳米尺度材料性质分析的研究级原子力显微镜。
Bruker Dimension Edge 原子力显微镜适合需要稳定成像、规范实验流程和可追溯数据管理的科研与工业平台。选型时应同时评估样品特性、目标分辨率、测量通量、环境条件以及后续分析软件。
核心技术与特点
- 参数:Bruker
- 参数:Dimension Edge AFM
- 参数:AFM/纳米表征
- 参数:AFM
- 参数:精选
- 参数:60万-600万+
- 参数:新材料、半导体薄膜、聚合物、二维材料、电池材料实验室
- 参数:纳米形貌、电学/力学性质、表面粗糙度、薄膜与二维材料表征
- 系统定位:围绕准确成像、重复性和实验效率构建完整工作流。
- 平台扩展:可结合相应附件、探测器或软件模块匹配不同研究任务。
典型应用
薄膜、聚合物、生物样品与纳米结构表征。适用于高校公共平台、科研院所、材料与生命科学实验室,以及需要建立标准化检测流程的研发部门。
- 样品形貌、结构或成像质量的定性与定量分析
- 方法开发、批次比较、工艺优化和异常定位
- 多用户共享平台的常规测试与高阶研究
选型关注点
- 确认样品尺寸、形态、环境兼容性和前处理要求
- 明确目标空间分辨率、视野范围、成像速度与数据量
- 核对主机、附件、探测器、控制软件和分析软件边界
- 评估安装环境、操作培训、维护周期与数据存储方案
实验与数据工作流
建议从样品准备、系统校准、参数设定、数据采集、质量控制到结果归档建立统一流程。对关键项目保留原始数据、方法参数和处理记录,以支持复测、比较和团队协作。
| 参数项 | 数值 |
|---|---|
| 品牌 | Bruker |
| 型号 | Dimension Edge |
| 系统类型 | 大样品研究级原子力显微镜 |
| XY 扫描范围 | 典型 90 × 90 μm;最低 85 × 85 μm |
| Z 扫描范围 | 典型 10 μm;最低 9.5 μm |
| 垂直噪声底 | <50 pm RMS |
| XY 闭环位置噪声 | <0.5 nm RMS |
| Z 闭环传感器噪声 | <0.2 nm RMS |
| 样品容量 | 直径≤150 mm、厚度≤15 mm;垫高框可至 40 mm |
| 电动 XY 检测区域 | 150 × 150 mm |
| 光学系统 | 5 MP 相机、电动聚焦和数字变焦 |
| 温控范围 | 可选 −35 至 +250 °C 加热/冷却附件 |
品牌Bruker型号Dimension Edge
资料依据
页面内容以品牌方公开资料、产品参数和售前配置复核为基础。正式价格、授权关系、供货周期和最终配置以商务确认为准。
