技术文章
原子力显微与表面纳米计量选型要点
说明AFM在材料、半导体和生命科学样品中的模式选择、样品台、探针和环境控制关注点。
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产品简介
兼顾高速成像、分辨率与力控制的大样品原子力显微镜平台。
兼顾高速成像、分辨率与力控制的大样品原子力显微镜平台。
Bruker Dimension FastScan 高速原子力显微镜适合需要稳定成像、规范实验流程和可追溯数据管理的科研与工业平台。选型时应同时评估样品特性、目标分辨率、测量通量、环境条件以及后续分析软件。
动态过程、高通量表面测量与快速纳米成像。适用于高校公共平台、科研院所、材料与生命科学实验室,以及需要建立标准化检测流程的研发部门。
建议从样品准备、系统校准、参数设定、数据采集、质量控制到结果归档建立统一流程。对关键项目保留原始数据、方法参数和处理记录,以支持复测、比较和团队协作。
| 参数项 | 数值 |
|---|---|
| 品牌 | Bruker |
| 型号 | Dimension FastScan |
| 系统类型 | 高速大样品原子力显微镜 |
| XY 扫描范围 | 35 × 35 μm |
| Z 扫描范围 | 3 μm |
| 调查模式栅格频率 | 最高 125 Hz |
| 系统漂移 | <200 pm/min |
| 最大晶圆直径 | 200 mm |
| 电动样品台范围 | 150 × 180 mm |
| 扫描方式 | 高速探针扫描 |
| 成像模式 | 接触、Tapping、相位、EFM 与 MFM 等 |
| 自动测量 | 支持多位置自动采集 |
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说明AFM在材料、半导体和生命科学样品中的模式选择、样品台、探针和环境控制关注点。
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页面内容以品牌方公开资料、产品参数和售前配置复核为基础。正式价格、授权关系、供货周期和最终配置以商务确认为准。