VEYON 自有离心机产品线高端显微与成像平台代理服务13422079856

技术文章

原子力显微与表面纳米计量选型要点

说明AFM在材料、半导体和生命科学样品中的模式选择、样品台、探针和环境控制关注点。

文章分类

原子力显微与表面纳米计量

正文

原子力显微系统选型应从测量模式开始,包括形貌、力学、电学、磁学、液体环境和高速动态观察等方向。不同模式对扫描头、控制器、探针和软件模块有不同要求。

半导体和材料用户通常关注低噪声、闭环扫描、自动化、多样品台和计量重复性;生命科学用户则会更重视液体池、温控、柔性样品力学测量和低损伤扫描。

建议在采购前明确常用样品尺寸、粗糙度范围、扫描面积、目标分辨率和是否需要与光学显微联用,避免后期因平台扩展受限影响使用效率。

关联产品

继续阅读

电话