Bruker Alicona µCMM 光学三维坐标测量机

产品概述

Bruker Alicona µCMM 是面向精密制造的光学三维坐标测量系统，使用同一光学传感器测量尺寸、位置、形状和表面粗糙度。焦点变化技术能够获取高密度三维点数据，适合带陡坡、复杂几何和精细表面的零件质量控制。

Bruker Alicona µCMM 光学三维坐标测量机 对应型号为 µCMM，本页依据制造商公开产品资料核对系统定位、核心技术和适用范围，便于技术比较与方案初选。

核心特点

• 测量原理：焦点变化光学三维测量。
• 测量项目：尺寸、位置、形状与粗糙度。
• 测量方式：非接触。
• 数据形式：高密度三维点云。
• 几何能力：复杂几何与陡坡表面。
• 表面能力：面积粗糙度与轮廓参数。
• 传感方案：单一光学传感器。
• 自动化：可编程自动测量流程。
• 质量用途：生产与实验室质量保证。

典型应用

切削刀具、精密零件、注塑件、微结构、医疗器械、航空航天与汽车部件，以及几何尺寸和表面质量联合检测。

实际测量方案应结合样品材料、表面状态、目标缺陷或结构尺度、生产节拍、数据接口和环境条件建立。

选型提示

建议重点确认检测或测量原理、样品尺寸、灵敏度或分辨率、扫描范围、自动化接口、数据分析软件、所需探测通道及附件。历史型号还应确认服务、软件和备件支持情况。