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原子力显微与表面纳米计量选型要点
说明AFM在材料、半导体和生命科学样品中的模式选择、样品台、探针和环境控制关注点。
阅读全文产品简介
面向复杂几何与高要求表面的高分辨率光学三维测量系统,可对微米和亚微米公差范围内的形状、轮廓及粗糙度进行非接触定量测量。
Bruker Alicona InfiniteFocus G6 将光学三维形貌、尺寸测量和表面粗糙度分析结合,用于难以通过接触式方法测量的复杂零件。焦点变化技术对具有纹理、陡坡和深结构的表面获取真彩色三维数据,并支持自动化质量流程。
Bruker Alicona InfiniteFocus G6 光学3D形貌与粗糙度测量系统 对应型号为 InfiniteFocus G6,本页依据制造商公开产品资料核对系统定位、核心技术和适用范围,便于技术比较与方案初选。
刀具刃口、微型零件、增材制造、精密加工、模具、医疗器械、电子部件、粗糙度、台阶与几何尺寸检测。
实际测量方案应结合样品材料、表面状态、目标缺陷或结构尺度、生产节拍、数据接口和环境条件建立。
建议重点确认检测或测量原理、样品尺寸、灵敏度或分辨率、扫描范围、自动化接口、数据分析软件、所需探测通道及附件。历史型号还应确认服务、软件和备件支持情况。
| 参数项 | 数值 |
|---|---|
| 品牌 | Bruker Alicona |
| 型号 | InfiniteFocus G6 |
| 产品类型 | 光学三维形貌与粗糙度系统 |
| 测量原理 | 焦点变化 |
| 测量方式 | 非接触光学三维测量 |
| 测量项目 | 形貌、尺寸与粗糙度 |
| 颜色数据 | 真彩色三维数据 |
| 表面适应 | 纹理、陡坡与深结构 |
| 几何分析 | 长度、角度、半径与形状 |
| 粗糙度 | 面积和轮廓粗糙度 |
| 自动化 | 可编程重复测量 |
| 拼接能力 | 支持多视场测量 |
| 质量用途 | 实验室及生产现场 |
| 典型对象 | 刀具、增材件与精密零件 |
选型判断
配置清单
代理服务
可协助需求梳理、样品测试、方法评估、配置核对、安装培训及售后对接;授权、价格、交期和供货范围以正式商务确认为准。
应用场景
刀具刃口与磨损
表面粗糙度和形貌
增材制造零件
精密零件质量控制
资料依据
页面内容以品牌方公开资料、产品参数和售前配置复核为基础。正式价格、授权关系、供货周期和最终配置以商务确认为准。
资料核验:2026-09-02