技术文章
原子力显微与表面纳米计量选型要点
说明AFM在材料、半导体和生命科学样品中的模式选择、样品台、探针和环境控制关注点。
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面向复杂几何与高要求表面的高分辨率光学三维测量系统,可对微米和亚微米公差范围内的形状、轮廓及粗糙度进行非接触定量测量。
面向复杂几何与高要求表面的高分辨率光学三维测量系统,可对微米和亚微米公差范围内的形状、轮廓及粗糙度进行非接触定量测量。
适用于切削刀具、精密零件、增材制造、电子、医疗器械和航空航天部件的表面质量与几何检测。
确认表面坡度、反射率、粗糙度、测量区域、目标分辨率、物镜、旋转轴、自动平台和标准化报告需求。
页面依据供应商公开资料整理。实际性能受具体配置、样品、环境、软件和应用方法影响,正式采购以供应商最新规格书、具体料号和技术协议为准。
| 参数项 | 数值 |
|---|---|
| 品牌 | Bruker Alicona |
| 型号 | InfiniteFocus G6 |
| 系统类型 | 光学三维形貌测量系统 |
| 测量方式 | 非接触光学测量 |
| 测量项目 | 形状 / 轮廓 / 粗糙度 |
| 公差能力 | 微米及亚微米范围 |
| 目标表面 | 复杂几何与高要求表面 |
| 自动化 | 自动测量、拼接与报告 |
选型判断
配置清单
代理服务
可协助需求梳理、样品测试、方法评估、配置核对、安装培训及售后对接;授权、价格、交期和供货范围以正式商务确认为准。
应用场景
刀具刃口与磨损
表面粗糙度和形貌
增材制造零件
精密零件质量控制
资料依据
页面内容以品牌方公开资料、产品参数和售前配置复核为基础。正式价格、授权关系、供货周期和最终配置以商务确认为准。
资料核验:2026-09-02