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Nikon ECLIPSE Ni-E 大样品工作距离

用于容纳较厚或不规则样品,决定仪器能否直接观察整机部件、治具或大尺寸工件。 选型和验收时应结合半导体封装和材料表面检查等真实应用,重点核对报告模板和计量溯源,并用代表性样品确认结果是否稳定可重复。
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