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15 个术语

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术语定义

WITec/Oxford Instruments alpha300 A AFM-Raman 轻敲模式

探针周期性接触样品表面,兼顾形貌分辨率和低损伤,常用于软材料、生物样品和纳米薄膜。 选型和验收时应结合纳米粗糙度测量等真实应用,重点核对扫描范围与闭环精度,并用代表性样品确认结果是否稳定可重复。

术语定义

WITec/Oxford Instruments alpha300 A AFM-Raman 力曲线

记录探针接近和离开样品时的力学响应,可用于分析模量、黏附力、形变和表面相互作用。 选型和验收时应结合二维材料台阶高度等真实应用,重点核对噪声底和 Z 向分辨率,并用代表性样品确认结果是否稳定可重复。

术语定义

WITec/Oxford Instruments alpha300 A AFM-Raman 闭环扫描器

通过位置反馈提高扫描准确性和重复性,适合定量测量台阶高度、粗糙度和纳米结构尺寸。 选型和验收时应结合聚合物和生物样品力学等真实应用,重点核对探针类型与力控能力,并用代表性样品确认结果是否稳定可重复。

术语定义

WITec/Oxford Instruments alpha300 A AFM-Raman 探针半径

探针尖端尺寸会影响横向分辨率和形貌卷积,是 AFM 结果解释和验收时必须关注的参数。 选型和验收时应结合薄膜电学或压电响应等真实应用,重点核对环境控制和液体池,并用代表性样品确认结果是否稳定可重复。

术语定义

WITec/Oxford Instruments alpha300 A AFM-Raman 环境隔振

温漂、声噪和地面振动会影响纳米级测量稳定性,安装环境需要与仪器指标一起评估。 选型和验收时应结合液体环境原位观察等真实应用,重点核对力曲线与多物理模式,并用代表性样品确认结果是否稳定可重复。

术语定义

WITec/Oxford Instruments alpha300 apyron 轻敲模式

探针周期性接触样品表面,兼顾形貌分辨率和低损伤,常用于软材料、生物样品和纳米薄膜。 选型和验收时应结合纳米粗糙度测量等真实应用,重点核对扫描范围与闭环精度,并用代表性样品确认结果是否稳定可重复。

术语定义

WITec/Oxford Instruments alpha300 apyron 力曲线

记录探针接近和离开样品时的力学响应,可用于分析模量、黏附力、形变和表面相互作用。 选型和验收时应结合二维材料台阶高度等真实应用,重点核对噪声底和 Z 向分辨率,并用代表性样品确认结果是否稳定可重复。

术语定义

WITec/Oxford Instruments alpha300 apyron 闭环扫描器

通过位置反馈提高扫描准确性和重复性,适合定量测量台阶高度、粗糙度和纳米结构尺寸。 选型和验收时应结合聚合物和生物样品力学等真实应用,重点核对探针类型与力控能力,并用代表性样品确认结果是否稳定可重复。

术语定义

WITec/Oxford Instruments alpha300 apyron 探针半径

探针尖端尺寸会影响横向分辨率和形貌卷积,是 AFM 结果解释和验收时必须关注的参数。 选型和验收时应结合薄膜电学或压电响应等真实应用,重点核对环境控制和液体池,并用代表性样品确认结果是否稳定可重复。

术语定义

WITec/Oxford Instruments alpha300 apyron 环境隔振

温漂、声噪和地面振动会影响纳米级测量稳定性,安装环境需要与仪器指标一起评估。 选型和验收时应结合液体环境原位观察等真实应用,重点核对力曲线与多物理模式,并用代表性样品确认结果是否稳定可重复。

术语定义

WITec/Oxford Instruments alpha300 R Confocal Raman Microscope 轻敲模式

探针周期性接触样品表面,兼顾形貌分辨率和低损伤,常用于软材料、生物样品和纳米薄膜。 选型和验收时应结合纳米粗糙度测量等真实应用,重点核对扫描范围与闭环精度,并用代表性样品确认结果是否稳定可重复。

术语定义

WITec/Oxford Instruments alpha300 R Confocal Raman Microscope 力曲线

记录探针接近和离开样品时的力学响应,可用于分析模量、黏附力、形变和表面相互作用。 选型和验收时应结合二维材料台阶高度等真实应用,重点核对噪声底和 Z 向分辨率,并用代表性样品确认结果是否稳定可重复。
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