术语词典

记录探针接近和离开样品时的力学响应，可用于分析模量、黏附力、形变和表面相互作用。 选型和验收时应结合二维材料台阶高度等真实应用，重点核对噪声底和 Z 向分辨率，并用代表性样品确认结果是否稳定可重复。

通过位置反馈提高扫描准确性和重复性，适合定量测量台阶高度、粗糙度和纳米结构尺寸。 选型和验收时应结合聚合物和生物样品力学等真实应用，重点核对探针类型与力控能力，并用代表性样品确认结果是否稳定可重复。

探针尖端尺寸会影响横向分辨率和形貌卷积，是 AFM 结果解释和验收时必须关注的参数。 选型和验收时应结合薄膜电学或压电响应等真实应用，重点核对环境控制和液体池，并用代表性样品确认结果是否稳定可重复。

温漂、声噪和地面振动会影响纳米级测量稳定性，安装环境需要与仪器指标一起评估。 选型和验收时应结合液体环境原位观察等真实应用，重点核对力曲线与多物理模式，并用代表性样品确认结果是否稳定可重复。

探针周期性接触样品表面，兼顾形貌分辨率和低损伤，常用于软材料、生物样品和纳米薄膜。 选型和验收时应结合纳米粗糙度测量等真实应用，重点核对扫描范围与闭环精度，并用代表性样品确认结果是否稳定可重复。

记录探针接近和离开样品时的力学响应，可用于分析模量、黏附力、形变和表面相互作用。 选型和验收时应结合二维材料台阶高度等真实应用，重点核对噪声底和 Z 向分辨率，并用代表性样品确认结果是否稳定可重复。

通过位置反馈提高扫描准确性和重复性，适合定量测量台阶高度、粗糙度和纳米结构尺寸。 选型和验收时应结合聚合物和生物样品力学等真实应用，重点核对探针类型与力控能力，并用代表性样品确认结果是否稳定可重复。

探针尖端尺寸会影响横向分辨率和形貌卷积，是 AFM 结果解释和验收时必须关注的参数。 选型和验收时应结合薄膜电学或压电响应等真实应用，重点核对环境控制和液体池，并用代表性样品确认结果是否稳定可重复。

温漂、声噪和地面振动会影响纳米级测量稳定性，安装环境需要与仪器指标一起评估。 选型和验收时应结合液体环境原位观察等真实应用，重点核对力曲线与多物理模式，并用代表性样品确认结果是否稳定可重复。

通过抑制离焦光获得样品内部薄层图像，是共聚焦、多光子和光片成像判断三维结构的基础概念。 选型和验收时应结合活细胞动态成像等真实应用，重点核对横向/轴向分辨率，并用代表性样品确认结果是否稳定可重复。

用近红外飞秒激光在焦点处产生非线性激发，适合厚组织、活体样品和低散射深部成像。 选型和验收时应结合组织透明化三维重构等真实应用，重点核对激发波长与检测通道，并用代表性样品确认结果是否稳定可重复。

通过 STED、SIM、单分子定位或相关算法提高空间分辨率，用于观察普通共聚焦难以分开的细微结构。 选型和验收时应结合神经环路和类器官观察等真实应用，重点核对光毒性和漂白控制，并用代表性样品确认结果是否稳定可重复。