2026-08-26
Andor/Oxford Instruments Sona 4.2B-11 sCMOS 应用场景、样品流程与上机验证
Andor/Oxford Instruments Sona 4.2B-11 sCMOS 面向科研级相机、sCMOS/EMCCD 与成像探测器,说明应用场景、样品流程与上机验证,覆盖弱荧光显微成像、单分子和超分辨实验、高速钙成像或行为同步等真实应用,并把样品、指标、配置和验收问题整理为采购前可核对的技术资料。
共 617 篇
2026-08-26
Andor/Oxford Instruments Sona 4.2B-11 sCMOS 面向科研级相机、sCMOS/EMCCD 与成像探测器,说明应用场景、样品流程与上机验证,覆盖弱荧光显微成像、单分子和超分辨实验、高速钙成像或行为同步等真实应用,并把样品、指标、配置和验收问题整理为采购前可核对的技术资料。
2026-08-26
Andor/Oxford Instruments Sona 4.2B-11 sCMOS 面向科研级相机、sCMOS/EMCCD 与成像探测器,说明配置选型、验收指标与代理采购沟通,覆盖弱荧光显微成像、单分子和超分辨实验、高速钙成像或行为同步等真实应用,并把样品、指标、配置和验收问题整理为采购前可核对的技术资料。
2026-08-26
Andor/Oxford Instruments Zyla 4.2 PLUS sCMOS 面向科研级相机、sCMOS/EMCCD 与成像探测器,说明原理、成像模式与关键指标,覆盖弱荧光显微成像、单分子和超分辨实验、高速钙成像或行为同步等真实应用,并把样品、指标、配置和验收问题整理为采购前可核对的技术资料。
2026-08-26
Andor/Oxford Instruments Zyla 4.2 PLUS sCMOS 面向科研级相机、sCMOS/EMCCD 与成像探测器,说明应用场景、样品流程与上机验证,覆盖弱荧光显微成像、单分子和超分辨实验、高速钙成像或行为同步等真实应用,并把样品、指标、配置和验收问题整理为采购前可核对的技术资料。
2026-08-26
Andor/Oxford Instruments Zyla 4.2 PLUS sCMOS 面向科研级相机、sCMOS/EMCCD 与成像探测器,说明配置选型、验收指标与代理采购沟通,覆盖弱荧光显微成像、单分子和超分辨实验、高速钙成像或行为同步等真实应用,并把样品、指标、配置和验收问题整理为采购前可核对的技术资料。
2026-08-26
BD Rhapsody Scanner / Imaging Workflow 面向扫描电镜、透射电镜、冷冻电镜与 FIB-SEM 平台,说明原理、成像模式与关键指标,覆盖纳米材料形貌观察、半导体截面和缺陷复检、催化剂与电池材料分析等真实应用,并把样品、指标、配置和验收问题整理为采购前可核对的技术资料。
2026-08-26
BD Rhapsody Scanner / Imaging Workflow 面向扫描电镜、透射电镜、冷冻电镜与 FIB-SEM 平台,说明应用场景、样品流程与上机验证,覆盖纳米材料形貌观察、半导体截面和缺陷复检、催化剂与电池材料分析等真实应用,并把样品、指标、配置和验收问题整理为采购前可核对的技术资料。
2026-08-26
BD Rhapsody Scanner / Imaging Workflow 面向扫描电镜、透射电镜、冷冻电镜与 FIB-SEM 平台,说明配置选型、验收指标与代理采购沟通,覆盖纳米材料形貌观察、半导体截面和缺陷复检、催化剂与电池材料分析等真实应用,并把样品、指标、配置和验收问题整理为采购前可核对的技术资料。