VEYON 自有离心机产品线高端显微与成像平台代理服务13422079856

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Bruker ContourX-500 3D Optical Profilometer 原理、成像模式与关键指标

Bruker ContourX-500 3D Optical Profilometer 面向扫描电镜、透射电镜、冷冻电镜与 FIB-SEM 平台,说明原理、成像模式与关键指标,覆盖纳米材料形貌观察、半导体截面和缺陷复检、催化剂与电池材料分析等真实应用,并把样品、指标、配置和验收问题整理为采购前可核对的技术资料。

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Bruker Dimension FastScan AFM 原理、成像模式与关键指标

Bruker Dimension FastScan AFM 面向AFM 与纳米力学表征平台,说明原理、成像模式与关键指标,覆盖纳米粗糙度测量、二维材料台阶高度、聚合物和生物样品力学等真实应用,并把样品、指标、配置和验收问题整理为采购前可核对的技术资料。

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Bruker Dimension Icon AFM 原理、成像模式与关键指标

Bruker Dimension Icon AFM 面向AFM 与纳米力学表征平台,说明原理、成像模式与关键指标,覆盖纳米粗糙度测量、二维材料台阶高度、聚合物和生物样品力学等真实应用,并把样品、指标、配置和验收问题整理为采购前可核对的技术资料。

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