选型判断
先确认这台仪器是否真正匹配你的实验目标
- 样本类型、尺寸、厚度与载具
- 目标结构尺度和分辨率要求
- 成像或扫描模式及速度
- 光源、通道、相机或探针配置
- 环境温度、气体或磁场条件
- 批量任务和连续运行时长
- 分析软件、自动化与接口需求
- 原始数据量、存储与验收标准

产品简介
面向低温、超低温及强磁场实验的紧凑型原子力显微镜,可用于纳米形貌、磁学、电学与力学性质研究。
面向低温、超低温及强磁场实验的紧凑型原子力显微镜,可用于纳米形貌、磁学、电学与力学性质研究。
| 参数项 | 数值 |
|---|---|
| 检测原理 | 悬臂式AFM,光纤干涉偏转检测 |
| 工作模式 | 接触/非接触/恒高/恒力 |
| 4 K RMS Z噪声 | 典型<0.10 nm,保证<0.15 nm |
| 横向分辨率 | 典型<20 nm,保证<30 nm |
| 粗定位范围 | 5×5×4.8 mm³ |
| 精细扫描范围 | 300 K:50×50×24 µm³ |
| 温度范围 | 1.8–300 K,依低温恒温器 |
| 磁场范围 | 0–12 T以上,依磁体 |
选型判断
配置清单
应用场景
动态过程与时间序列研究
多通道或高分辨结构成像
三维样本或表面形貌定量
自动化采集与批量数据分析
资料依据
页面内容以品牌方公开资料、产品参数和售前配置复核为基础。正式价格、授权关系、供货周期和最终配置以商务确认为准。
资料核验:2026-09-08