CrestOptics DeepSIM 结构光超分辨成像系统

产品概述

结构光超分辨平台，可在常规荧光标记条件下实现约100 nm横向、约300 nm轴向分辨率，并兼顾活细胞、多色和较大视野成像。

CrestOptics DeepSIM 结构光超分辨成像系统的型号定位、成像能力和应用边界已按品牌官方资料核对。页面重点呈现可直接用于方案比较的硬件、光学、样本兼容性和数据流程信息，便于科研平台、药物研发及成像中心进行初步筛选。

核心技术与优势

成像原理：2D lattice multi-spot SIM；横向分辨率：约100 nm（100×、NA 1.45）；轴向分辨率：约300 nm（100×、NA 1.45）；采集速度：13 fps（1024×1024）。上述指标决定系统在空间分辨率、速度、视野、光毒性及多色实验之间的平衡。

激发范围：400–750 nm；发射范围：400–850 nm；物镜范围：20×–100×高NA平场复消色差；成像模式：超分辨/宽场；X-Light版兼容转盘共聚焦。实际选型应将物镜数值孔径、相机灵敏度、光源与滤光配置作为整体评估，不能只比较单一指标。

典型应用

适合活细胞动力学、亚细胞结构、多色荧光、三维层扫、类器官或组织切片等任务；对于自动化平台，还可用于孔板筛选、表型定量和时间序列实验。建议使用代表性样本进行现场测试，核对弱信号、厚样本、快速事件以及大视野拼接效果。

选型与配置建议

确认样本载具、物镜倍率和数值孔径、荧光通道、视场与分辨率、相机数量、采集速度及环境控制需求。若涉及双相机、超分辨、自动加液、培养箱或机器人接口，应在配置清单中明确模块型号、软件许可、接口条件和验收样本。

使用与数据工作流

建议建立标准化流程：样本与通道设置、曝光和激光功率基线、自动聚焦、Z层与时间点规划、质量控制、图像校正、分割定量、原始数据归档及结果导出。长期项目应固定关键参数并记录软件版本，保证不同批次、操作者和实验日期之间的数据可比较。