Evident BX53M 正置材料显微镜

产品概述

Evident BX53M 是模块化正置材料显微镜，采用 UIS2 无限远校正光学系统，可按常规材料、荧光、红外或偏光用途搭建。编码白光 LED 反射照明器可记录倍率和观察条件，并支持 MIX 定向暗场以增强细微划痕与纹理。

Evident BX53M 正置材料显微镜 对应型号为 BX53M，页面内容已按制造商官方产品页、产品手册或规格表核对，重点呈现可用于技术比较的真实功能、结构和参数。

核心特点

• 光学系统：UIS2无限远校正。
• 机架：反射光或反射/透射光。
• 调焦行程：25 mm。
• 微调每转：100 µm。
• 最小刻度：1 µm。
• 最大样品高度：反射65 mm；加适配器105 mm。
• 标准视场数：FN 22。
• 反射光源：白色LED。
• 反射观察：明场、暗场、DIC、偏光、MIX。
• 透射光源：BX3M-LEDT白色LED。

围绕光学系统、照明、运动控制、数字成像和分析软件进行模块组合，可把观察、测量、记录与报告纳入统一工作流程，并提高不同操作者之间的结果一致性。

典型应用

金相组织、半导体和电子元件、涂层、陶瓷、矿物、偏光材料、红外芯片检查、晶粒及定量图像分析。

建立方法时应结合样品尺寸、表面反射和透明特性、目标结构尺度、观察方式、自动化节拍及数据留档要求设置采集条件。

选型提示

建议确认所需视场、倍率与分辨率、工作距离、样品尺寸及载荷、明暗场或荧光等对比方式、自动化级别、相机接口、测量软件与附件兼容性。对于在售状态可能变化的型号，还应核实现行部件和服务支持。