大型半导体检测显微镜 | MX63/MX63L | 奥林巴斯

产品简介

适用于检测最大尺寸300 mm的晶圆、平板显示器、电路板以及其他大尺寸样品的显微镜。使用MX63可让您的工作流程更加顺畅。

支持按工艺目标、样本类型与通量要求进行选型建议。