Hitachi High-Tech EA8000A X 射线异物分析系统

产品概述

Hitachi High-Tech EA8000A 将透射 X 射线成像、微区 X 射线荧光分析和光学观察整合在一台设备中，可先从大面积电池材料中快速定位金属异物，再自动进行元素识别与报告。它面向锂离子电池和燃料电池的进料、过程与失效分析。

Hitachi High-Tech EA8000A X 射线异物分析系统 的页面内容按照型号 EA8000A 对应的制造商公开资料整理，重点保留对方案设计和采购选型有用的信息。

核心特点

• 250 × 200 mm 成像时间：约 3 至 10 min。
• 单点元素分析时间：约 1 至 4 min。
• 元素范围：Mg（12）至 U（92）。
• 样品形态：固体或粉末。
• 最大样品尺寸：250 × 200 × 50 mm。
• XRF 管参数：45 kV；900 µA。
• XRF 光斑：30 µm。
• XRF 探测器：Vortex SDD，无需液氮。
• 透射 X 射线源：水冷 X 射线管。

典型应用

锂电正负极、隔膜、导电剂和粉末异物检测，燃料电池材料，来料检验、制程监控及失效分析。

实际方案需结合样品尺寸、材料特性、目标缺陷或测量范围、节拍、自动化程度以及数据输出要求进行设计。

选型提示

选型时建议逐项确认测量原理、样品尺寸、空间与高度范围、精度和重复性、扫描速度、光学配置、自动平台、软件分析功能以及现场安装条件。系列产品和可选模块应按具体料号确认。