J.A. Woollam IR-VASE Mark II 红外光谱椭偏仪

产品概述

将 FTIR 的化学灵敏度与椭偏测量的薄膜灵敏度结合，覆盖约 1.7–30 μm 近红外至远红外光谱，用于薄膜、体材料、载流子和化学组成表征。

核心特点

• 1.7–30 μm 宽红外光谱范围
• 光谱分辨率可设 1–64 cm⁻¹
• 入射角范围约 32°–90°
• 适合超薄膜、声子、载流子和化学组成分析

典型应用

适用于半导体自由载流子、化合物半导体声子、红外光学涂层、聚合物、生物和化学材料研究。

选型提示

重点确认波数/波长范围、所需分辨率、样品反射率、测量温度、入射角和数据建模需求。

配置与合规说明

页面依据供应商公开资料整理。实际性能受型号配置、光学组件、样品、环境和软件选件影响，正式采购以供应商最新规格书、具体料号和技术协议为准。