J.A. Woollam IR-VASE Mark II 红外光谱椭偏仪

产品概述 J.A. Woollam IR-VASE Mark II 将傅里叶变换红外光谱的化学敏感性与光谱椭偏的薄膜灵敏度结合，可在近红外至远红外范围测量薄膜和块体材料。相位与振幅信息能够表征超薄膜、分子键振动、外延层、掺杂浓度及载流子分布。 J.A. Woollam IR-VASE Mark II 红外光谱椭偏仪 对应型号为 IR-VASE Mark II，本页参数按制造商当前公开产品页或规格资料逐项核对，便于方案比较和采购选型。 核心特点 椭偏结构： 旋转补偿器椭偏仪 RCE。 波长范围： 1.7–30 µm。 波数范围： 333–5900 cm⁻¹。 光谱分辨率： 1–64 cm⁻¹，用户设定。 探测器： DTGS。 入射角范围： 32°–90°。 典型 min/完整光谱。 采集条件： 单入射角、16 cm⁻¹ 分辨率。 最大基底厚度： 20 mm。 典型应用 半导体外延与掺杂、红外光学涂层、聚合物和有机薄膜、化学与生物材料、声子结构和自由载流子分析。 建立测量方案时，应结合样品材料、结构尺度、所需数据类型、测量节拍、自动化接口和环境控制条件确定配置。 选型提示 建议重点确认光谱或扫描范围、样品尺寸、空间分辨率、重复性、测量速度、分析软件、自动平台和所需附件。扩展波段、探测器、样品台与应用模块可能属于选件，应按具体料号核对。