J.A. Woollam M-2000 高速光谱椭偏仪

产品概述

J.A. Woollam M-2000 采用旋转补偿器椭偏技术与高速 CCD 阵列，可在一次采集中同时获取数百个波长的数据。模块化光学结构兼顾实验室台式测量、自动角度、面内映射及原位过程连接，适用于需要速度和精度兼顾的薄膜表征。

J.A. Woollam M-2000 高速光谱椭偏仪 对应型号为 M-2000，本页参数按制造商当前公开产品页或规格资料逐项核对，便于方案比较和采购选型。

核心特点

• 椭偏结构：旋转补偿器椭偏仪 RCE。
• D 型波长范围：193–1000 nm。
• X-210 型范围：210–1000 nm。
• X/U 型范围：245–1000 nm。
• V 型范围：370–1000 nm。
• NIR 扩展：1005–1690 nm。
• 波长数量：约 390–500；NIR 另加约 190。
• 探测器：CCD 阵列。
• 自动角度范围：45°–90°。

典型应用

半导体薄膜、光学涂层、光伏材料、聚合物、透明导电膜、原位沉积或刻蚀监控和大面积均匀性映射。

建立测量方案时，应结合样品材料、结构尺度、所需数据类型、测量节拍、自动化接口和环境控制条件确定配置。

选型提示

建议重点确认光谱或扫描范围、样品尺寸、空间分辨率、重复性、测量速度、分析软件、自动平台和所需附件。扩展波段、探测器、样品台与应用模块可能属于选件，应按具体料号核对。