J.A. Woollam VASE 可变角光谱椭偏仪

产品概述

高精度可变角光谱椭偏仪，标准覆盖 240–2500 nm，并可扩展至 193–4000 nm，用于半导体、介质、聚合物、金属及复杂多层膜的厚度和光学常数研究。

核心特点

• 标准 240–2500 nm，扩展最高 193–4000 nm
• 自动入射角约 15°–90°
• RAE 与 AutoRetarder 技术
• 支持各向异性、退偏和 Mueller 矩阵数据

典型应用

适用于半导体薄膜、多层光学涂层、介质、金属、聚合物、液体界面和温变材料研究。

选型提示

根据目标材料选择 DUV、NIR/IR 扩展、聚焦光斑、温控台、液体池和自动样品平台。

配置与合规说明

页面依据供应商公开资料整理。实际性能受型号配置、光学组件、样品、环境和软件选件影响，正式采购以供应商最新规格书、具体料号和技术协议为准。