J.A. Woollam VASE 可变角光谱椭偏仪

产品概述 J.A. Woollam VASE 是面向广泛材料研究的可变角光谱椭偏仪，采用旋转分析器与 AutoRetarder 技术，通过自动单色仪精确选择波长。系统覆盖深紫外至中红外扩展范围，并支持反射、透射、散射、各向异性和 Mueller 矩阵相关测量。 J.A. Woollam VASE 可变角光谱椭偏仪 对应型号为 VASE，本页参数按制造商当前公开产品页或规格资料逐项核对，便于方案比较和采购选型。 核心特点 椭偏结构： RAE 旋转分析器配 AutoRetarder。 标准波长范围： 240–2500 nm。 DUV 扩展： 193–240 nm。 4IR 扩展： 2500–4000 nm。 入射角范围： 15°–90°。 角度准确度： 0.01°。 典型 s/波长。 高精度采集： 约 20 s/波长。 最大基底厚度： 20 mm。 典型应用 半导体、介质、聚合物、金属、多层膜、光学涂层、液体光学性质、温变和各向异性材料研究。 建立测量方案时，应结合样品材料、结构尺度、所需数据类型、测量节拍、自动化接口和环境控制条件确定配置。 选型提示 建议重点确认光谱或扫描范围、样品尺寸、空间分辨率、重复性、测量速度、分析软件、自动平台和所需附件。扩展波段、探测器、样品台与应用模块可能属于选件，应按具体料号核对。