JEOL JEM-1400Flash 120 kV 透射电子显微镜

产品概述

JEOL JEM-1400Flash 120 kV 透射电子显微镜面向科研平台与工业实验室的历史型号，官方已停止销售应用，可根据样品、分辨率、成像和分析目标配置探测器、样品杆及软件工作流。

核心特点

• 系统类型：120 kV 透射电子显微镜。
• 分辨率：HC：0.20 nm；HR：0.14 nm。
• 加速电压：10–120 kV。
• 放大倍率：HC：10×–1,200,000×；HR：10×–1,500,000×。
• 最大倾转：±70°，需高倾转样品杆。

典型应用

适用于材料微结构、纳米颗粒、半导体、能源材料、生物样品或结构生物学研究；具体方向取决于该型号的 TEM、Cryo-EM 或 SEM 平台定位。

选型提示

采购前应确认加速电压、目标分辨率、样品尺寸与温控条件、成像通量、探测器及 EDS/EELS/直接电子相机等附件。历史型号应同时评估服务、备件和替代机型。