JEOL NEOARM JEM-ARM200F 球差校正透射电子显微镜

产品概述

JEOL NEOARM JEM-ARM200F 球差校正透射电子显微镜面向科研平台与工业实验室的球差校正原子分辨 STEM/TEM应用，可根据样品、分辨率、成像和分析目标配置探测器、样品杆及软件工作流。

核心特点

• 电子源：冷场发射电子枪。
• 加速电压：200 kV；低电压配置依方案。
• 球差校正：集成探针形成球差校正器。
• 成像模式：原子分辨 STEM、TEM 与衍射。
• 探测器：ADF/BF STEM 探测器依配置。

典型应用

适用于材料微结构、纳米颗粒、半导体、能源材料、生物样品或结构生物学研究；具体方向取决于该型号的 TEM、Cryo-EM 或 SEM 平台定位。

选型提示

采购前应确认加速电压、目标分辨率、样品尺寸与温控条件、成像通量、探测器及 EDS/EELS/直接电子相机等附件。历史型号应同时评估服务、备件和替代机型。