JEOL JEM-F200 多用途场发射透射电子显微镜

产品概述

JEOL JEM-F200 多用途场发射透射电子显微镜面向科研平台与工业实验室的多用途场发射透射/扫描透射电子显微镜应用，可根据样品、分辨率、成像和分析目标配置探测器、样品杆及软件工作流。

核心特点

• 电子源：冷场发射电子枪。
• 加速电压：200 kV；可选 100 kV。
• 成像模式：TEM、STEM、电子衍射。
• 能谱分析：EDS 依配置。
• 能量过滤：EELS/能量过滤功能依配置。

典型应用

适用于材料微结构、纳米颗粒、半导体、能源材料、生物样品或结构生物学研究；具体方向取决于该型号的 TEM、Cryo-EM 或 SEM 平台定位。

选型提示

采购前应确认加速电压、目标分辨率、样品尺寸与温控条件、成像通量、探测器及 EDS/EELS/直接电子相机等附件。历史型号应同时评估服务、备件和替代机型。