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电子显微与微区分析平台配置要点
围绕SEM、TEM、FIB、冷冻电镜和能谱分析,梳理材料、生命科学和半导体场景的配置关注点。
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产品简介
JEOL JEM-Z300FSC CRYO ARM 300 属于电镜/Cryo-EM/FIB-SEM高端产品池,适合结构生物学平台、材料学院、半导体失效分析、先进制造研发中心。典型应用包括蛋白结构解析、纳米材料形貌分析、截面制样、半导体失效分析。该型号用于显微与成像平台转型上架,建议销售前复核授权、供货周期、配置清单和正式技术参数。
JEOL CRYO ARM 300 JEM-Z300FSC 冷冻电子显微镜面向科研平台与工业实验室的300 kV 冷冻场发射电子显微镜应用,可根据样品、分辨率、成像和分析目标配置探测器、样品杆及软件工作流。
适用于材料微结构、纳米颗粒、半导体、能源材料、生物样品或结构生物学研究;具体方向取决于该型号的 TEM、Cryo-EM 或 SEM 平台定位。
采购前应确认加速电压、目标分辨率、样品尺寸与温控条件、成像通量、探测器及 EDS/EELS/直接电子相机等附件。历史型号应同时评估服务、备件和替代机型。
| 参数项 | 数值 |
|---|---|
| 品牌 | JEOL |
| 型号 | JEM-Z300FSC CRYO ARM 300 |
| 系统类型 | 300 kV 冷冻场发射电子显微镜 |
| 电子源 | 冷场发射电子枪 |
| 加速电压 | 300 kV |
| 能量过滤器 | 柱内 Omega 能量过滤器 |
| 样品冷却 | 液氮冷却,自动补液 |
| 自动换样 | 一次最多 4 个样品,存储最多 12 个 |
| 成像应用 | 单颗粒、冷冻断层与 MicroED |
| 相机与软件 | 直接电子探测器及 JADAS 依配置 |