选型判断
先确认这台仪器是否真正匹配你的实验目标
- 明确样品类型、尺寸、材料和测量目标
- 确认视野、倍率、横向及高度测量范围
- 核对共聚焦、形状光、白光或数字成像原理
- 确认镜头、物镜、照明和传感器配置
- 评估样品台行程、工作距离和自动化需求
- 确认三维分析、拼接、CAD比较及报告功能
- 核对精度、重复性、校准和验收方法
- 使用代表性样品验证测量能力和操作节拍

产品简介
三维激光扫描共聚焦显微镜控制平台,将针孔共聚焦、焦点变化和彩色成像结合,用于获取微细表面的形貌、粗糙度、轮廓和尺寸数据。
KEYENCE VK-X1000 系列将激光共聚焦、彩色成像与三维表面测量组合在同一系统中,可在不接触样品的条件下获取微细形貌并分析高度、轮廓、粗糙度和膜厚。自动扫描与分析模板适合研发和质量控制。
KEYENCE VK-X1000 三维激光扫描显微镜 对应型号为 VK-X1000 Series。本页以制造商官方产品页、规格表或产品手册为依据,重点整理可用于技术比较的工作原理、结构特点与关键指标。
系统围绕光学成像、运动控制、三维数据采集和分析软件形成完整工作流程,可将观察、测量、结果复核与报告输出统一管理。
半导体、电子封装、精密加工、薄膜、涂层、磨损、金属、陶瓷、聚合物及微结构表面测量。
建立方法时应结合样品尺寸、表面反射或透明特性、目标结构尺度、所需测量范围和批量检测节拍设置采集条件。
选型应核对测量原理、倍率与视场、高度和横向分辨率、工作距离、样品行程、对比方式、自动化能力及软件模块。历史型号还需确认现行替代产品、附件兼容性与服务支持。
| 参数项 | 数值 |
|---|---|
| 品牌 | KEYENCE |
| 型号 | VK-X1000 Series |
| 产品类型 | 三维激光扫描显微镜 |
| 测量原理 | 激光共聚焦扫描 |
| 激光波长 | 408 nm |
| 显示分辨率 | 高度 0.5 nm;宽度 1 nm |
| 光学变倍 | 1×–8× |
| 物镜转盘 | 6 位电动物镜转盘 |
| 观察方式 | 激光、彩色、激光+彩色 |
| 检测器 | 高灵敏度光电检测器 |
| 彩色相机 | 高分辨率 CMOS |
| Z 扫描 | 高速电动扫描 |
| XY 平台 | 电动平台,支持拼接 |
| 主要分析 | 高度、宽度、轮廓、粗糙度与体积 |
| 膜厚 | 支持透明膜厚分析 |
| 自动功能 | 自动对焦、自动亮度与自动测量 |
| 输出 | 三维图、截面、数值与报告 |
选型判断
配置清单
代理服务
可协助需求梳理、样品测试、方法评估、配置核对、安装培训及售后对接;授权、价格、交期和供货范围以正式商务确认为准。
应用场景
半导体和MEMS
涂层与薄膜
精密加工表面
粗糙度及三维轮廓
资料依据
页面内容以品牌方公开资料、产品参数和售前配置复核为基础。正式价格、授权关系、供货周期和最终配置以商务确认为准。
资料核验:2026-09-03