型号: Keyence VK-X3000 3D Laser Scanning Microscope

形状测量激光显微系统 - VK-X3000 系列 | 基恩士中国官方网站

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产品简介

由基恩士中国提供的 VK-X3000 系列; 采用了三重扫描方式,运用激光共聚焦、白光干涉、聚焦变化等三种不同的扫描原理,高倍率和低倍率,平面、凹凸表面的细微粗糙度,以及镜面体,透明体等。VK拥有应对多种样品的测量能力(从 1 nm 到 50 mm),纳米/微米/毫米一台完成测量。

支持按工艺目标、样本类型与通量要求进行选型建议。

型号Keyence VK-X3000 3D Laser Scanning Microscope
系列未配置
适配场景可按工艺需求定制

由基恩士中国提供的 VK-X3000 系列; 采用了三重扫描方式,运用激光共聚焦、白光干涉、聚焦变化等三种不同的扫描原理,高倍率和低倍率,平面、凹凸表面的细微粗糙度,以及镜面体,透明体等。VK拥有应对多种样品的测量能力(从 1 nm 到 50 mm),纳米/微米/毫米一台完成测量。

型号Keyence VK-X3000 3D Laser Scanning Microscope
系列未配置
适配场景可按工艺需求定制