选型判断
先确认这台仪器是否真正匹配你的实验目标
- 明确样品类型、尺寸、结构和目标应用
- 确认目标分辨率、缺陷尺寸或计量量程
- 核对成像、检测、曝光或分析原理
- 确认样品台、自动装载和目标吞吐量
- 评估环境、安装空间、公用工程和安全要求
- 确认软件、数据格式、报告及主机通讯
- 核对校准、验收、计量溯源和合规要求
- 使用代表性样品验证性能和流程适用性

产品简介
面向半导体光刻研发和工艺优化的计算光刻仿真平台,可利用光学和光刻胶动力学模型评估成像、材料、曝光及图形化工艺窗口,减少实体实验成本。
KLA PROLITH 是用于虚拟光刻与图形化工艺研究的计算光刻软件。它以基础光学和光刻胶动力学模型模拟掩模、材料、曝光设备和工艺条件对晶圆图形的影响,使工程人员能够在投入昂贵的晶圆实验前筛选设计空间并优化工艺窗口。
KLA PROLITH 计算光刻仿真软件 对应型号为 PROLITH。内容依据制造商公开产品资料整理,突出系统原理、能力边界和适用场景,便于技术人员进行初步方案比较。
光刻工艺开发、掩模方案比较、光刻胶建模、浸没式光刻、双重图形化、扫描机参数评估和工艺窗口优化。
建立应用流程时,应结合样品尺寸、材料组成、目标结构尺度、检测节拍、数据分析和自动化接口确定测量方案。
选型时建议逐项确认分辨率或量测范围、样品兼容性、成像或仿真模式、探测与分析模块、软件版本、自动化程度及现场条件。属于选件的模块应按实际任务单独确认。
| 参数项 | 数值 |
|---|---|
| 品牌 | KLA |
| 型号 | PROLITH |
| 产品类型 | 计算光刻仿真软件 |
| 计算基础 | 光学与光刻胶动力学模型 |
| 结构支持 | 复杂膜堆栈 |
| 地形支持 | 嵌入式基底形貌 |
| 材料模型 | 支持光刻胶模型校准 |
| 设计变量 | 掩模设计 |
| 材料变量 | 光刻胶与膜层性质 |
| 设备变量 | 扫描机设置 |
| 工艺变量 | 曝光与处理参数 |
| 图形化支持 | 单次、浸没式及双重图形化 |
| 仿真尺度 | 芯片局部区域精细建模 |
| 主要价值 | 虚拟实验与工艺窗口优化 |
选型判断
配置清单
代理服务
可协助需求梳理、样品测试、方法评估、配置核对、安装培训及售后对接;授权、价格、交期和供货范围以正式商务确认为准。
应用场景
光刻工艺窗口优化
材料和光刻胶模型
浸没式与多重图形化
EUV 和厚胶工艺研究
资料依据
页面内容以品牌方公开资料、产品参数和售前配置复核为基础。正式价格、授权关系、供货周期和最终配置以商务确认为准。
资料核验:2026-09-01