选型判断
先确认这台仪器是否真正匹配你的实验目标
- 明确被测对象、材料、尺寸和表面状态
- 确认目标缺陷、颗粒、膜厚或形貌的量程与分辨率
- 核对样品台尺寸、行程、承重和自动化需求
- 确认测量速度、点位数量及产线节拍
- 评估环境振动、温湿度、洁净度和安装空间
- 确认软件分析、报告、数据追溯与接口要求
- 核对校准标准、验收方法和计量溯源要求
- 使用代表性样品进行重复性、再现性和相关性验证

产品简介
OPTELICS HYBRID+ C3 是 LaserTec 基础型白光共聚焦显微镜,可进行表面形貌、粗糙度、宽度、间距和高度等非接触三维测量,支持宽视野至高倍率观察。
OPTELICS HYBRID+ C3 是 LaserTec 基础型白光共聚焦显微镜,可进行表面形貌、粗糙度、宽度、间距和高度等非接触三维测量,支持宽视野至高倍率观察。
适用于半导体、电子器件、精密加工、材料表面、微结构和失效分析中的三维形貌、粗糙度、台阶及尺寸测量。
C3 主要提供白光共聚焦功能;若需要激光共聚焦、干涉、微分干涉或膜厚功能,应比较 L3/L7 及相应选件。
页面依据供应商公开资料整理。具体测量能力受样品、光学配置、测量模式、环境和软件选件影响,正式采购以供应商最新规格书、具体料号和技术协议为准。
| 参数项 | 数值 |
|---|---|
| 品牌 | Lasertec |
| 型号 | OPTELICS HYBRID+ C3 |
| 测量原理 | 白光共聚焦 |
| 物镜范围 | 1× 至 150× |
| 图像分辨率 | 1024 × 1024;高分辨率 2048 × 2048 |
| 帧率 | 15 至 120 Hz |
| 高度量程 | 最高约 7 mm |
| 高度标尺分辨率 | 0.05 nm |
| 高度重复性 | 约 10(典型条件) nm |
| 宽度重复性 | 约 10(典型条件) nm |
选型判断
配置清单
代理服务
可协助完成需求梳理、样品测试、方法评估、配置核对、安装培训及售后对接;授权、价格、交期和供货范围以正式商务确认为准。
应用场景
三维表面形貌与粗糙度
微结构尺寸和台阶测量
半导体与电子器件分析
精密加工质量控制
资料依据
页面内容以品牌方公开资料、产品参数和售前配置复核为基础。正式价格、授权关系、供货周期和最终配置以商务确认为准。
资料核验:2026-09-01