VEYON 自有离心机产品线高端显微与成像平台代理服务13422079856

型号: OPTELICS HYBRID+ C3

Lasertec OPTELICS HYBRID+ C3 白光共聚焦显微镜

OPTELICS HYBRID+ C3

产品简介

OPTELICS HYBRID+ C3 是 LaserTec 基础型白光共聚焦显微镜,可进行表面形貌、粗糙度、宽度、间距和高度等非接触三维测量,支持宽视野至高倍率观察。

型号OPTELICS HYBRID+ C3
分类半导体/薄膜/表面检测
电话联系 13422079856

产品概述

Lasertec OPTELICS HYBRID+ C3 是该混合激光显微镜平台的基础型号,以白光共聚焦光学实现真彩观察与三维轮廓测量。宽倍率范围、纳米级高度标尺分辨率、快速帧率和自动拼接分析,使其适合从毫米级视野到微细表面的无损测量。

Lasertec OPTELICS HYBRID+ C3 白光共聚焦显微镜 的页面内容按照型号 OPTELICS HYBRID+ C3 对应的制造商公开资料整理,重点保留对方案设计和采购选型有用的信息。

核心特点

  • 白光物镜范围:1× 至 150×。
  • 屏幕倍率:18.5× 至 2775×(24 英寸显示器)。
  • 视野范围:15,000 × 15,000 µm 至 100 × 100 µm。
  • 数字变焦:1× 至 8×。
  • 亮度图像:1024 × 1024 × 12 bit;高精细 2048 × 2048 × 12 bit。
  • 高度图像:1024 × 1024 × 16 bit;高精细 2048 × 2048 × 16 bit。
  • 帧率:15 Hz 至 120 Hz。
  • 宽度最小单位:0.001 µm。
  • 宽度重复性:10 nm(3σ)。

典型应用

半导体、电子元件、精密加工、薄膜、微结构、材料表面、失效分析和质量控制。

实际方案需结合样品尺寸、材料特性、目标缺陷或测量范围、节拍、自动化程度以及数据输出要求进行设计。

选型提示

选型时建议逐项确认测量原理、样品尺寸、空间与高度范围、精度和重复性、扫描速度、光学配置、自动平台、软件分析功能以及现场安装条件。系列产品和可选模块应按具体料号确认。

型号OPTELICS HYBRID+ C3
分类半导体/薄膜/表面检测

选型与服务

OPTELICS HYBRID+ C3 选型与配置

咨询 OPTELICS HYBRID+ C3 的配置、供货周期与技术资料。

咨询配置与报价
平台半导体/薄膜/表面检测型号OPTELICS HYBRID+ C3

选型判断

先确认这台仪器是否真正匹配你的实验目标

  • 明确被测对象、材料、尺寸和表面状态
  • 确认目标缺陷、颗粒、膜厚或形貌的量程与分辨率
  • 核对样品台尺寸、行程、承重和自动化需求
  • 确认测量速度、点位数量及产线节拍
  • 评估环境振动、温湿度、洁净度和安装空间
  • 确认软件分析、报告、数据追溯与接口要求
  • 核对校准标准、验收方法和计量溯源要求
  • 使用代表性样品进行重复性、再现性和相关性验证

配置清单

询价前需要确认的配置项

  • 设备主机及对应测量模块
  • 物镜、探头、光源或探测器配置
  • 样品台、夹具、卡盘或样品适配器
  • 控制电脑、显示器及数据存储
  • 分析软件、自动化模块和报告模板
  • 校准件、标准样品及日常核查工具
  • 安全互锁、排风、冷却或防振设施(如适用)
  • 安装调试、方法开发、验收和培训服务

代理服务

选型与交付支持

可协助完成需求梳理、样品测试、方法评估、配置核对、安装培训及售后对接;授权、价格、交期和供货范围以正式商务确认为准。

应用场景

哪些需求适合优先评估这个型号

三维表面形貌与粗糙度

微结构尺寸和台阶测量

半导体与电子器件分析

精密加工质量控制

资料依据

页面内容以品牌方公开资料、产品参数和售前配置复核为基础。正式价格、授权关系、供货周期和最终配置以商务确认为准。

资料核验:2026-09-01
Lasertec:OPTELICS HYBRID+ Specifications