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型号: OPTELICS HYBRID+ C3

Lasertec OPTELICS HYBRID+ C3 白光共聚焦显微镜

OPTELICS HYBRID+ C3

产品简介

OPTELICS HYBRID+ C3 是 LaserTec 基础型白光共聚焦显微镜,可进行表面形貌、粗糙度、宽度、间距和高度等非接触三维测量,支持宽视野至高倍率观察。

型号OPTELICS HYBRID+ C3
分类半导体/薄膜/表面检测
电话联系 13422079856

产品概述

OPTELICS HYBRID+ C3 是 LaserTec 基础型白光共聚焦显微镜,可进行表面形貌、粗糙度、宽度、间距和高度等非接触三维测量,支持宽视野至高倍率观察。

核心特点

  • 白光共聚焦观察与三维形貌测量
  • 1×至 150× 物镜覆盖宽视野和微细结构
  • 高度量程最高约 7 mm
  • 宽度和高度测量重复性典型值约 10 nm

典型应用

适用于半导体、电子器件、精密加工、材料表面、微结构和失效分析中的三维形貌、粗糙度、台阶及尺寸测量。

选型提示

C3 主要提供白光共聚焦功能;若需要激光共聚焦、干涉、微分干涉或膜厚功能,应比较 L3/L7 及相应选件。

配置与合规说明

页面依据供应商公开资料整理。具体测量能力受样品、光学配置、测量模式、环境和软件选件影响,正式采购以供应商最新规格书、具体料号和技术协议为准。

型号OPTELICS HYBRID+ C3
分类半导体/薄膜/表面检测

选型与服务

OPTELICS HYBRID+ C3 选型与配置

咨询 OPTELICS HYBRID+ C3 的配置、供货周期与技术资料。

咨询配置与报价
平台半导体/薄膜/表面检测型号OPTELICS HYBRID+ C3

选型判断

先确认这台仪器是否真正匹配你的实验目标

  • 明确被测对象、材料、尺寸和表面状态
  • 确认目标缺陷、颗粒、膜厚或形貌的量程与分辨率
  • 核对样品台尺寸、行程、承重和自动化需求
  • 确认测量速度、点位数量及产线节拍
  • 评估环境振动、温湿度、洁净度和安装空间
  • 确认软件分析、报告、数据追溯与接口要求
  • 核对校准标准、验收方法和计量溯源要求
  • 使用代表性样品进行重复性、再现性和相关性验证

配置清单

询价前需要确认的配置项

  • 设备主机及对应测量模块
  • 物镜、探头、光源或探测器配置
  • 样品台、夹具、卡盘或样品适配器
  • 控制电脑、显示器及数据存储
  • 分析软件、自动化模块和报告模板
  • 校准件、标准样品及日常核查工具
  • 安全互锁、排风、冷却或防振设施(如适用)
  • 安装调试、方法开发、验收和培训服务

代理服务

选型与交付支持

可协助完成需求梳理、样品测试、方法评估、配置核对、安装培训及售后对接;授权、价格、交期和供货范围以正式商务确认为准。

应用场景

哪些需求适合优先评估这个型号

三维表面形貌与粗糙度

微结构尺寸和台阶测量

半导体与电子器件分析

精密加工质量控制

资料依据

页面内容以品牌方公开资料、产品参数和售前配置复核为基础。正式价格、授权关系、供货周期和最终配置以商务确认为准。

资料核验:2026-09-01
Lasertec:OPTELICS HYBRID+ Specifications