Leica DM6 M LIBS 激光诱导击穿光谱材料分析显微镜

产品概述

把自动化正置材料显微镜与激光诱导击穿光谱分析结合，在显微图像中定位目标后进行元素识别。系统将结构观察、成分分析、图像记录和报告整合到统一工作流，适合对夹杂物和未知颗粒进行快速筛查。

核心特点

• 分析原理：激光诱导击穿光谱。
• 显微镜平台：DM6 M 全自动正置材料显微镜。
• 观察方式：明场、暗场、偏光、DIC，依配置。
• 元素识别：基于 LIBS 光谱数据库匹配。
• 目标定位：显微图像导航与自动载物台定位。
• 物镜转盘：电动编码物镜转换。
• 照明控制：编码化 LED 照明。
• 软件：LAS X 材料分析工作流。

典型应用

钢铁夹杂物、金属合金、颗粒污染、失效分析、质量控制和需要显微定位元素鉴别的材料研究。

选型提示

选型时应结合样品尺寸和状态、空间与时间分辨率、观察模式、光源和探测器、自动化通量、环境控制以及数据分析需求；可选模块应按具体系统组合确认。