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型号: JetStep X500

Onto Innovation JetStep X500 大视场面板光刻系统

Onto Innovation JetStep X500 Lithography System 高端半导体检测系统

产品简介

面向先进集成电路基板和面板级先进封装的大幅面投影光刻系统,支持最高约 250 × 250 mm 单次曝光场和约 3 μm 线/空分辨率。

型号JetStep X500
品牌Onto Innovation
分类半导体/薄膜/表面检测
电话联系 13422079856

产品概述

JetStep X500 是面向先进集成电路基板和面板级封装的步进式投影光刻系统。其 250 mm × 250 mm 大曝光场可显著减少大尺寸面板的拼接次数,并以较大景深、实时自动聚焦和倍率补偿应对玻璃、覆铜板及复合基板的翘曲与尺寸变化。

Onto Innovation JetStep X500 大视场面板光刻系统 对应型号为 JetStep X500。内容依据制造商公开产品资料整理,突出系统原理、能力边界和适用场景,便于技术人员进行初步方案比较。

核心特点

  • 最大曝光场:250 × 250 mm。
  • 线/空分辨率:3 µm L/S。
  • 面板规格:支持约 510 × 515 mm 级面板。
  • 投影倍率:2.2×。
  • 倍率补偿:±400 ppm。
  • 非对称倍率补偿:±100 ppm。
  • 叠对能力:小于 1 µm(公开技术资料条件)。
  • 基板材料:玻璃、CCL、复合材料。
  • 对焦:实时自动聚焦。

典型应用

先进 IC 基板、扇出型面板级封装、玻璃基板、CCL、ABF 和大尺寸重布线层曝光。

建立应用流程时,应结合样品尺寸、材料组成、目标结构尺度、检测节拍、数据分析和自动化接口确定测量方案。

选型提示

选型时建议逐项确认分辨率或量测范围、样品兼容性、成像或仿真模式、探测与分析模块、软件版本、自动化程度及现场条件。属于选件的模块应按实际任务单独确认。

型号JetStep X500
分类半导体/薄膜/表面检测

选型与服务

JetStep X500 选型与配置

咨询 Onto Innovation JetStep X500 的配置、供货周期与技术资料。

咨询配置与报价
品牌Onto Innovation平台半导体/薄膜/表面检测型号JetStep X500

选型判断

先确认这台仪器是否真正匹配你的实验目标

  • 明确样品类型、尺寸、结构和目标应用
  • 确认目标分辨率、缺陷尺寸或计量量程
  • 核对成像、检测、曝光或分析原理
  • 确认样品台、自动装载和目标吞吐量
  • 评估环境、安装空间、公用工程和安全要求
  • 确认软件、数据格式、报告及主机通讯
  • 核对校准、验收、计量溯源和合规要求
  • 使用代表性样品验证性能和流程适用性

配置清单

询价前需要确认的配置项

  • 设备主机及核心成像/检测模块
  • 电子束、离子束、X射线或光学组件
  • 样品台、卡盘、夹具或自动装载模块
  • 探测器、相机及分析附件
  • 控制电脑、工作站和数据存储
  • 采集、重建、分析或工艺仿真软件
  • 隔振、排风、冷却、气体或安全设施
  • 安装调试、方法开发、验收和培训

代理服务

选型与交付支持

可协助需求梳理、样品测试、方法评估、配置核对、安装培训及售后对接;授权、价格、交期和供货范围以正式商务确认为准。

应用场景

哪些需求适合优先评估这个型号

先进 IC 基板光刻

面板级先进封装

异构集成与 Chiplet

玻璃核心基板

资料依据

页面内容以品牌方公开资料、产品参数和售前配置复核为基础。正式价格、授权关系、供货周期和最终配置以商务确认为准。

资料核验:2026-09-01
Onto Innovation:JetStep X500