选型判断
先确认这台仪器是否真正匹配你的实验目标
- 明确样品类型、尺寸、结构和目标应用
- 确认目标分辨率、缺陷尺寸或计量量程
- 核对成像、检测、曝光或分析原理
- 确认样品台、自动装载和目标吞吐量
- 评估环境、安装空间、公用工程和安全要求
- 确认软件、数据格式、报告及主机通讯
- 核对校准、验收、计量溯源和合规要求
- 使用代表性样品验证性能和流程适用性

产品简介
面向先进集成电路基板和面板级先进封装的大幅面投影光刻系统,支持最高约 250 × 250 mm 单次曝光场和约 3 μm 线/空分辨率。
JetStep X500 是面向先进集成电路基板和面板级封装的步进式投影光刻系统。其 250 mm × 250 mm 大曝光场可显著减少大尺寸面板的拼接次数,并以较大景深、实时自动聚焦和倍率补偿应对玻璃、覆铜板及复合基板的翘曲与尺寸变化。
Onto Innovation JetStep X500 大视场面板光刻系统 对应型号为 JetStep X500。内容依据制造商公开产品资料整理,突出系统原理、能力边界和适用场景,便于技术人员进行初步方案比较。
先进 IC 基板、扇出型面板级封装、玻璃基板、CCL、ABF 和大尺寸重布线层曝光。
建立应用流程时,应结合样品尺寸、材料组成、目标结构尺度、检测节拍、数据分析和自动化接口确定测量方案。
选型时建议逐项确认分辨率或量测范围、样品兼容性、成像或仿真模式、探测与分析模块、软件版本、自动化程度及现场条件。属于选件的模块应按实际任务单独确认。
| 参数项 | 数值 |
|---|---|
| 品牌 | Onto Innovation |
| 型号 | JetStep X500 |
| 产品类型 | 大视场投影光刻系统 |
| 最大曝光场 | 250 × 250 mm |
| 线/空分辨率 | 3 µm L/S |
| 面板规格 | 支持约 510 × 515 mm 级面板 |
| 投影倍率 | 2.2× |
| 倍率补偿 | ±400 ppm |
| 非对称倍率补偿 | ±100 ppm |
| 叠对能力 | 小于 1 µm(公开技术资料条件) |
| 基板材料 | 玻璃、CCL、复合材料 |
| 对焦 | 实时自动聚焦 |
| 光学特点 | 大景深、高保真投影 |
| 主要用途 | 先进封装大面板曝光 |
选型判断
配置清单
代理服务
可协助需求梳理、样品测试、方法评估、配置核对、安装培训及售后对接;授权、价格、交期和供货范围以正式商务确认为准。
应用场景
先进 IC 基板光刻
面板级先进封装
异构集成与 Chiplet
玻璃核心基板
资料依据
页面内容以品牌方公开资料、产品参数和售前配置复核为基础。正式价格、授权关系、供货周期和最终配置以商务确认为准。
资料核验:2026-09-01