选型判断
先确认这台仪器是否真正匹配你的实验目标
- 明确样品类型、尺寸、结构和目标应用
- 确认目标分辨率、缺陷尺寸或计量量程
- 核对成像、检测、曝光或分析原理
- 确认样品台、自动装载和目标吞吐量
- 评估环境、安装空间、公用工程和安全要求
- 确认软件、数据格式、报告及主机通讯
- 核对校准、验收、计量溯源和合规要求
- 使用代表性样品验证性能和流程适用性

产品简介
面向先进集成电路基板和面板级先进封装的大幅面投影光刻系统,支持最高约 250 × 250 mm 单次曝光场和约 3 μm 线/空分辨率。
面向先进集成电路基板和面板级先进封装的大幅面投影光刻系统,支持最高约 250 × 250 mm 单次曝光场和约 3 μm 线/空分辨率。
适用于先进集成电路基板、异构集成、面板级封装、玻璃核心基板及高性能计算封装的图形曝光。
确认面板材料和尺寸、抗蚀剂厚度、最小线宽、叠对精度、曝光场、翘曲补偿和产能要求。
页面依据供应商公开资料整理。实际性能受具体配置、样品、环境、软件和应用方法影响,正式采购以供应商最新规格书、具体料号和技术协议为准。
| 参数项 | 数值 |
|---|---|
| 品牌 | Onto Innovation |
| 型号 | JetStep X500 |
| 曝光场 | 最高约 250 × 250 mm |
| 分辨率 | 约 3 μm L/S |
| 投影倍率 | 约 2.2× |
| 支持面板 | 约 510 × 515 mm |
| 叠对 | 小于约 1 μm |
| 材料 | CCL / FR4 / 复合材料 / 玻璃 |
选型判断
配置清单
代理服务
可协助需求梳理、样品测试、方法评估、配置核对、安装培训及售后对接;授权、价格、交期和供货范围以正式商务确认为准。
应用场景
先进 IC 基板光刻
面板级先进封装
异构集成与 Chiplet
玻璃核心基板
资料依据
页面内容以品牌方公开资料、产品参数和售前配置复核为基础。正式价格、授权关系、供货周期和最终配置以商务确认为准。
资料核验:2026-09-01