选型判断
先确认这台仪器是否真正匹配你的实验目标
- 明确样品材料、尺寸、结构和表面状态
- 确认目标膜层、结构或纳米属性及预期量程
- 核对光谱范围、入射角、光斑或扫描范围
- 确认测量速度、点位数量与自动化节拍
- 评估样品台尺寸、承重、定位和环境要求
- 确认分析模型、数据库、报告和数据接口
- 核对校准标准、验收方法和计量溯源
- 使用代表性样品验证重复性、相关性和方法适用性
产品简介
高度模块化的光谱椭偏系统，拥有 70 多种配置，单系统可覆盖约 190 nm 深紫外至 25 μm 中红外，用于复杂多层膜及各向异性材料分析。
产品概述
高度模块化的光谱椭偏系统，拥有 70 多种配置，单系统可覆盖约 190 nm 深紫外至 25 μm 中红外，用于复杂多层膜及各向异性材料分析。
核心特点
- 光谱范围可覆盖 190 nm 至 25 μm
- 70 多种模块化配置
- 支持光谱、广义和透射椭偏测量
- 典型单点测量约 1–10 秒
典型应用
适用于半导体、光伏、显示、光学涂层、聚合物和复杂多层膜的厚度、折射率及各向异性分析。
选型提示
根据光谱范围、快速/高分辨模式、FTIR 扩展、自动映射、样品温控及分析软件选择具体配置。
配置与合规说明
页面依据供应商公开资料整理。实际性能受型号配置、光学组件、样品、环境和软件选件影响，正式采购以供应商最新规格书、具体料号和技术协议为准。
| 参数项 | 数值 |
|---|---|
| 品牌 | Semilab |
| 型号 | SE-2000 |
| 光谱范围 | 190 nm–25 μm（依配置） |
| 配置数量 | 70+ |
| 测量模式 | 光谱 / 广义 / 透射椭偏 |
| 典型单点时间 | 1–10 s |
| 最快测量 | 约 167 ms |
| 自动化 | 手动至全自动映射 |
平台半导体/薄膜/表面检测型号SE-2000
配置清单
询价前需要确认的配置项
- 设备主机及核心测量模块
- 光源、探测器、物镜或扫描头配置
- 样品台、夹具、卡盘或自动装载模块
- 控制电脑、软件及数据存储
- 分析模型、材料数据库和报告模板
- 校准件、标准样品及核查工具
- 隔振、声学罩、排风或环境设施
- 安装调试、方法开发、验收和培训
代理服务
选型与交付支持
可协助需求梳理、样品测试、方法评估、配置核对、安装培训及售后对接；授权、价格、交期和供货范围以正式商务确认为准。
应用场景
哪些需求适合优先评估这个型号
复杂多层膜分析
半导体与光伏材料
显示和光学涂层
各向异性与透明基片
资料依据
页面内容以品牌方公开资料、产品参数和售前配置复核为基础。正式价格、授权关系、供货周期和最终配置以商务确认为准。
资料核验：2026-09-01