
产品简介
赛默飞积极响应大规模设备更新,Apreo 2 SEM场发射扫描电镜是用于多功能材料成像和分析的扫描电子显微镜。其特点包括高分辨率稳定性强操作简便等适用于材料科学生命科学电子工业等多个领域。我们提供全方位的售后服务和技术支持欢迎拨打咨询热线400 820 8982了解更多详情。
产品概述
面向材料研究和高质量微区分析的高分辨场发射扫描电子显微镜,通过镜筒内探测、束流减速和自动光学调节,在低加速电压及长工作距离下保持高分辨率。
核心特点
- 电子源:高稳定肖特基场发射源。
- Apreo 2 S分辨率:0.9 nm @ 1 kV;束流减速时 0.8 nm @ 1 kV。
- 长工作距离分辨率:1.0 nm @ 1 kV、10 mm WD(束流减速)。
- 低电压分辨率:0.8 nm @ 500 V(束流减速,S 型)。
- 标准探测器:ETD、T1、T2;S 型另含 T3。
- 样品导航:IR-CCD 与 Nav-Cam+。
典型应用
适用于纳米材料、半导体、金属、陶瓷、催化剂、电池材料和聚合物的表面形貌、成分、晶体取向及大面积自动成像。
选型提示
选型时应结合目标分辨率、加速电压、样品尺寸与导电性、真空或低温条件、电子/离子束流范围、探测器组合、元素分析能力和自动化通量。涉及可选探测器、EDS、EBSD、EELS、冷冻附件或原位样品台时,应按具体配置逐项确认。
| 参数项 | 数值 |
|---|---|
| 品牌 | Thermo Scientific |
| 型号 | Apreo 2 SEM |
| 系统类型 | 高分辨场发射扫描电子显微镜 |
| 电子源 | 高稳定肖特基场发射源 |
| Apreo 2 S分辨率 | 0.9 nm @ 1 kV;束流减速时 0.8 nm @ 1 kV |
| 长工作距离分辨率 | 1.0 nm @ 1 kV、10 mm WD(束流减速) |
| 低电压分辨率 | 0.8 nm @ 500 V(束流减速,S 型) |
| 标准探测器 | ETD、T1、T2;S 型另含 T3 |
| 样品导航 | IR-CCD 与 Nav-Cam+ |
| 自动化 | SmartAlign、FLASH 自动像质优化与 Maps 大面积采集 |
| 分析扩展 | EDS、EBSD、WDS、Raman、STEM、CL、EBIC 依配置 |
品牌Thermo Fisher Scientific型号Apreo 2 SEM
