
产品简介
Cryo EM sample preparation using the Aquilos 2 Cryo FIB - Extend cryo EM sample prep run time with enhanced automation for cryo electron tomography and microED.
产品概述
专用于冷冻电镜样品薄片制备的第二代 Cryo-FIB-SEM,将低温转移、电子束定位、镓离子束切削和自动批量制样集成在同一平台。
核心特点
- 电子源:高稳定肖特基场发射源。
- 电子束加速电压:200 V–30 kV。
- 冷冻条件电子分辨率:6.0 nm @ 2 kV。
- 离子源:镓离子源。
- 离子束电压与束流:500 V–30 kV;1.5 pA–65 nA。
- 离子束分辨率:7.0 nm @ 30 kV(冷冻台)。
典型应用
适用于细胞原位冷冻电子断层、MicroED 微晶薄片、冷冻 lift-out、相关光电定位以及多个目标区域的无人值守批量薄片制备。
选型提示
选型时应结合目标分辨率、加速电压、样品尺寸与导电性、真空或低温条件、电子/离子束流范围、探测器组合、元素分析能力和自动化通量。涉及可选探测器、EDS、EBSD、EELS、冷冻附件或原位样品台时,应按具体配置逐项确认。
| 参数项 | 数值 |
|---|---|
| 品牌 | Thermo Scientific |
| 型号 | Aquilos 2 Cryo-FIB |
| 系统类型 | 冷冻聚焦离子束扫描电子显微镜 |
| 电子源 | 高稳定肖特基场发射源 |
| 电子束加速电压 | 200 V–30 kV |
| 冷冻条件电子分辨率 | 6.0 nm @ 2 kV |
| 离子源 | 镓离子源 |
| 离子束电压与束流 | 500 V–30 kV;1.5 pA–65 nA |
| 离子束分辨率 | 7.0 nm @ 30 kV(冷冻台) |
| 冷冻台 | 360°连续旋转;冷却时间 <20 min |
| 样品台行程 | XY 110 mm;Z 65 mm;冷冻倾转 -15°至+55° |
| 自动化 | AutoTEM Cryo 批量薄片制备;支持 AutoScript 与 Auto Slice & View |
品牌Thermo Fisher Scientific平台电镜/Cryo-EM/FIB-SEM型号Aquilos 2 Cryo-FIB
