Thermo Scientific Spectra 200 高分辨扫描透射电子显微镜

产品概述

面向材料科学与半导体研究的高分辨扫描透射电子显微镜，可在较宽电压范围内完成 TEM、STEM、衍射和分析表征。平台兼顾低电压敏感材料成像与 200 kV 高分辨分析，并支持按研究任务扩展像差校正、EDS 和 EELS。

核心特点

• 加速电压：30–200 kV。
• 电子源：X-CFEG 超高亮度冷场发射源。
• 能量展宽：<0.4 eV。
• 探针校正配置：STEM 分辨率 60 pm；30 kV 时 136 pm。
• 非校正配置：信息极限 110 pm；STEM 分辨率 164 pm。
• 物镜：对称 S-TWIN/X-TWIN 宽极靴间隙物镜。
• 分析选件：Super-X/Dual-X EDS；Gatan EELS/DualEELS。

典型应用

适用于二维材料、电池、催化剂、纳米颗粒、半导体器件、金属与陶瓷的晶体结构、界面、缺陷及纳米尺度元素和电子结构分析。

选型提示

选型时应结合目标空间与时间分辨率、样品尺寸和状态、照明与探测配置、通量、环境控制、自动化程度及数据处理能力。表中含可选配置或应用结果的项目，应按具体料号、附件组合和实验条件逐项确认。