
产品简介
Spectra 300 (S)TEM is a high-resolution (S)TEM for materials science and semiconductor research with aberration correction, EDS/EELS, and 4D STEM for atomic-scale analysis
产品概述
面向原子尺度结构与化学分析的模块化 300 kV 扫描透射电子显微镜。平台提供多种高能量分辨电子源、探针或图像校正方案,并通过恒功率光学和自动校正提高不同模式切换时的稳定性与重复性。
核心特点
- 加速电压:30–300 kV。
- 电子源选项:X-FEG Mono、X-FEG UltiMono 或 X-CFEG。
- 双校正STEM分辨率:50 pm @ 300 kV。
- 双校正信息极限:60 pm(X-FEG/Mono);70 pm(X-CFEG)。
- 能量展宽:0.2–0.3 eV;UltiMono 最低 <0.025 eV;X-CFEG <0.4 eV。
- 物镜:对称 S-TWIN,5.4 mm 宽极靴间隙。
- 校正器:可配置探针校正、图像校正或双校正。
典型应用
适用于先进半导体、量子材料、电池、催化剂、金属合金、陶瓷和二维材料的原子分辨成像、谱学、元素分析、原位实验及三维表征。
选型提示
选型时应结合目标空间与时间分辨率、样品尺寸和状态、照明与探测配置、通量、环境控制、自动化程度及数据处理能力。表中含可选配置或应用结果的项目,应按具体料号、附件组合和实验条件逐项确认。
| 参数项 | 数值 |
|---|---|
| 品牌 | Thermo Scientific |
| 型号 | Spectra 300 (S)TEM |
| 系统类型 | 原子分辨 TEM/STEM |
| 加速电压 | 30–300 kV |
| 电子源选项 | X-FEG Mono、X-FEG UltiMono 或 X-CFEG |
| 双校正STEM分辨率 | 50 pm @ 300 kV |
| 双校正信息极限 | 60 pm(X-FEG/Mono);70 pm(X-CFEG) |
| 能量展宽 | 0.2–0.3 eV;UltiMono 最低 <0.025 eV;X-CFEG <0.4 eV |
| 物镜 | 对称 S-TWIN,5.4 mm 宽极靴间隙 |
| 校正器 | 可配置探针校正、图像校正或双校正 |
| 分析选件 | Super-X/Dual-X EDS、EELS、能量过滤器 |
| 自动化 | Auto S-CORR、OptiMono、OptiSTEM 与数字远程控制 |
品牌Thermo Fisher Scientific平台电镜/Cryo-EM/FIB-SEM型号Spectra 300 (S)TEM
