ZEISS Axio Imager.Z2m 全自动材料显微镜

产品概述

ZEISS Axio Imager.Z2m 是 Axio Imager 2 材料平台中的高自动化正置显微镜，面向需要可重复条件、自动聚焦、程序化采集和定量材料分析的研究与质量控制任务。电动调焦、反射光部件和可编程按键可由触控界面及 ZEN core 软件协同管理。

ZEISS Axio Imager.Z2m 全自动材料显微镜 对应型号为 Axio Imager.Z2m，页面内容已按制造商官方产品页、产品手册或规格表核对，重点呈现可用于技术比较的真实功能、结构和参数。

核心特点

• 平台：Axio Imager 2 模块化正置平台。
• 自动化级别：高自动化 Z2m 配置。
• 调焦：电动 Z 驱动。
• 最小Z步进：10 nm级平台能力。
• 反射光照明器：电动，带快门与扩散片。
• 滤块转盘：电动6位。
• 用户按键：10个可编程按键。
• 操作界面：TFT触控显示。
• 反射光方法：明场、暗场、DIC、C-DIC、偏光、荧光。
• 透射光：支持模块化透射照明。

围绕光学系统、照明、运动控制、数字成像和分析软件进行模块组合，可把观察、测量、记录与报告纳入统一工作流程，并提高不同操作者之间的结果一致性。

典型应用

金相组织、夹杂物、技术清洁度、颗粒、晶圆表面、涂层、复合材料、液晶、MEMS及自动化材料分析。

建立方法时应结合样品尺寸、表面反射和透明特性、目标结构尺度、观察方式、自动化节拍及数据留档要求设置采集条件。

选型提示

建议确认所需视场、倍率与分辨率、工作距离、样品尺寸及载荷、明暗场或荧光等对比方式、自动化级别、相机接口、测量软件与附件兼容性。对于在售状态可能变化的型号，还应核实现行部件和服务支持。