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型号: Axio Imager.Z2m

蔡司 ZEISS Axio Imager.Z2m 全自动材料显微镜

用于材料研究的Axio Imager 2

产品简介

面向高级材料研究与自动分析的正置光学显微镜,采用稳定机架、模块化光路和全电动部件,可在固定成像条件下获得可重复的显微图像与定量结果。

型号Axio Imager.Z2m
品牌ZEISS
分类半导体/薄膜/表面检测
电话联系 13422079856

产品概述

面向高级材料研究与自动分析的正置光学显微镜,采用稳定机架、模块化光路和全电动部件,可在固定成像条件下获得可重复的显微图像与定量结果。

Z2m 适合需要自动切换物镜、对比方式、焦点和采集位置的复杂任务,可扩展颗粒、非金属夹杂物、金相、偏光、荧光、共聚焦及关联显微分析。

核心技术与优势

  • 全电动 Z 轴、物镜转盘和光路组件
  • 反射光支持明场、暗场、DIC、C-DIC、偏光和荧光
  • 十个用户可定义功能按键和触控操作
  • 可结合专用软件形成可重复材料分析流程

典型应用

适用于金属与合金、复合材料、液晶、MEMS、半导体、颗粒清洁度和非金属夹杂物分析,也可用于温台实验及多模态关联研究。

选型与配置建议

重点确认反射光/透射光、物镜系列、对比方法、电动平台、相机、拼接、景深扩展、颗粒或金相分析模块,以及是否扩展共聚焦能力。

使用与数据工作流

  • 建立样品类型和物镜对应的成像配置
  • 自动调用照明、光阑、对比方式与焦点
  • 批量采集、拼接并完成颗粒或组织分析
  • 输出带尺度、统计结果和原始图像的报告

通过保存和复用成像条件,可减少操作者差异,适合研发项目以及需要结果追溯的标准化材料实验室。

型号Axio Imager.Z2m
分类半导体/薄膜/表面检测

选型与服务

Axio Imager.Z2m 选型与配置

咨询 ZEISS Axio Imager.Z2m 的配置、供货周期与技术资料。

咨询配置与报价
品牌ZEISS平台半导体/薄膜/表面检测型号Axio Imager.Z2m

选型判断

先确认这台仪器是否真正匹配你的实验目标

  • 明确样品类型、尺寸、材料和观察目标
  • 确认放大倍率、视野、分辨率或测量精度
  • 核对显微成像、体视观察或影像测量原理
  • 确认物镜、照明、相机及观察方式配置
  • 评估样品台、工作距离和自动化需求
  • 确认软件、数据格式、报告及主机通讯
  • 核对校准、验收、溯源和适用标准
  • 使用代表性样品验证成像或测量效果

配置清单

询价前需要确认的配置项

  • 设备主机及核心光学系统
  • 物镜、目镜、镜筒或变倍镜头
  • 照明光源、滤块和偏光组件
  • 相机、探测器及图像采集模块
  • 样品台、夹具和自动对焦模块
  • 控制电脑、分析和报告软件
  • 隔振、遮光、温控及安装附件
  • 安装调试、方法开发、验收和培训

代理服务

选型与交付支持

可协助需求梳理、样品测试、方法评估、配置核对、安装培训及售后对接;授权、价格、交期和供货范围以正式商务确认为准。

应用场景

哪些需求适合优先评估这个型号

自动金相与材料组织分析

颗粒清洁度和非金属夹杂物

半导体、MEMS与复合材料

偏光、共聚焦及关联显微

资料依据

页面内容以品牌方公开资料、产品参数和售前配置复核为基础。正式价格、授权关系、供货周期和最终配置以商务确认为准。

资料核验:2026-09-03
ZEISS:Axio Imager 2 for Materials