选型判断
先确认这台仪器是否真正匹配你的实验目标
- 明确样品类型、尺寸、材料和观察目标
- 确认放大倍率、视野、分辨率或测量精度
- 核对显微成像、体视观察或影像测量原理
- 确认物镜、照明、相机及观察方式配置
- 评估样品台、工作距离和自动化需求
- 确认软件、数据格式、报告及主机通讯
- 核对校准、验收、溯源和适用标准
- 使用代表性样品验证成像或测量效果

产品简介
面向高级材料研究与自动分析的正置光学显微镜,采用稳定机架、模块化光路和全电动部件,可在固定成像条件下获得可重复的显微图像与定量结果。
面向高级材料研究与自动分析的正置光学显微镜,采用稳定机架、模块化光路和全电动部件,可在固定成像条件下获得可重复的显微图像与定量结果。
Z2m 适合需要自动切换物镜、对比方式、焦点和采集位置的复杂任务,可扩展颗粒、非金属夹杂物、金相、偏光、荧光、共聚焦及关联显微分析。
适用于金属与合金、复合材料、液晶、MEMS、半导体、颗粒清洁度和非金属夹杂物分析,也可用于温台实验及多模态关联研究。
重点确认反射光/透射光、物镜系列、对比方法、电动平台、相机、拼接、景深扩展、颗粒或金相分析模块,以及是否扩展共聚焦能力。
通过保存和复用成像条件,可减少操作者差异,适合研发项目以及需要结果追溯的标准化材料实验室。
| 参数项 | 数值 |
|---|---|
| 品牌 | ZEISS(蔡司) |
| 型号 | Axio Imager.Z2m |
| 系统类型 | 全自动正置材料显微镜 |
| 机型级别 | Axio Imager.Z2m |
| 反射光对比 | 明场 / 暗场 / DIC / C-DIC / 偏光 / 荧光 |
| 自动化 | 电动调焦、物镜及光路组件 |
| 快捷控制 | 10 个用户可定义按键 |
| 扩展应用 | 颗粒 / NMI / 共聚焦 / 关联显微 |
选型判断
配置清单
代理服务
可协助需求梳理、样品测试、方法评估、配置核对、安装培训及售后对接;授权、价格、交期和供货范围以正式商务确认为准。
应用场景
自动金相与材料组织分析
颗粒清洁度和非金属夹杂物
半导体、MEMS与复合材料
偏光、共聚焦及关联显微
资料依据
页面内容以品牌方公开资料、产品参数和售前配置复核为基础。正式价格、授权关系、供货周期和最终配置以商务确认为准。
资料核验:2026-09-03