型号: ZEISS Crossbeam 550 Sample Preparation

蔡司Crossbeam 550 FIB-SEM | 先进样品制备

蔡司Crossbeam 550 FIB-SEM | 先进样品制备

产品简介

蔡司Crossbeam 550是兼顾高分辨率成像与精准FIB加工的全能型扫描电镜,支持快速切割和低电压精细处理,显著减少样品损伤并制备高质量TEM薄片,自动化工作流可大幅提升检测效率。通过加装飞秒激光模块,Crossbeam的加工效率和尺度可进一步拓展,同时可以满足多种微纳加工需求。产品可服务于半导体、金属钢铁、新材料及高校测试机构等客户,可高效完成半导体先进封装分析、锂电池材料表征、工程材料失效检测、微纳加工及生物组织三维重建,是科研院所与工业实验室通用的高性价比样品制备与分析工具。生命科学领域可温和处理细胞、组织样本,依托低损伤离子束切割技术完成靶向制样与三维超微结构重构;亦可在冷冻下温和的处理细胞、组织样本,配合光电关联,完成靶向制样,定位于亚细胞器。

支持按工艺目标、样本类型与通量要求进行选型建议。

型号ZEISS Crossbeam 550 Sample Preparation
系列未配置
适配场景可按工艺需求定制

蔡司Crossbeam 550是兼顾高分辨率成像与精准FIB加工的全能型扫描电镜,支持快速切割和低电压精细处理,显著减少样品损伤并制备高质量TEM薄片,自动化工作流可大幅提升检测效率。通过加装飞秒激光模块,Crossbeam的加工效率和尺度可进一步拓展,同时可以满足多种微纳加工需求。产品可服务于半导体、金属钢铁、新材料及高校测试机构等客户,可高效完成半导体先进封装分析、锂电池材料表征、工程材料失效检测、微纳加工及生物组织三维重建,是科研院所与工业实验室通用的高性价比样品制备与分析工具。生命科学领域可温和处理细胞、组织样本,依托低损伤离子束切割技术完成靶向制样与三维超微结构重构;亦可在冷冻下温和的处理细胞、组织样本,配合光电关联,完成靶向制样,定位于亚细胞器。

型号ZEISS Crossbeam 550 Sample Preparation
系列未配置
适配场景可按工艺需求定制