选型判断
先确认这台仪器是否真正匹配你的实验目标
- 明确样品类型、尺寸、结构和目标应用
- 确认目标分辨率、缺陷尺寸或计量量程
- 核对成像、检测、曝光或分析原理
- 确认样品台、自动装载和目标吞吐量
- 评估环境、安装空间、公用工程和安全要求
- 确认软件、数据格式、报告及主机通讯
- 核对校准、验收、计量溯源和合规要求
- 使用代表性样品验证性能和流程适用性
产品简介
采用 Gemini 3 电子光学和 Smart Autopilot 的场发射扫描电子显微镜，可在低于 1 kV 条件下实现亚纳米级、无磁场样品成像，并支持高效自动对准及多种电子探测。
产品概述
采用 Gemini 3 电子光学和 Smart Autopilot 的场发射扫描电子显微镜，可在低于 1 kV 条件下实现亚纳米级、无磁场样品成像，并支持高效自动对准及多种电子探测。
核心特点
- 低于 1 kV 条件下亚纳米级分辨率
- Gemini 3 Nano-twin 电子光学
- Smart Autopilot 自动对准、校准和聚焦
- 适合非导电、磁性及真空敏感样品
典型应用
适用于半导体、纳米材料、磁性材料、能源材料、生命科学和失效分析中的高分辨表面成像与成分分析。
选型提示
确认样品导电性、目标电压和分辨率、探测器、EDS/EBSD/STEM 附件、变压模式及自动化工作流。
配置与合规说明
页面依据供应商公开资料整理。实际性能受具体配置、样品、环境、软件和应用方法影响，正式采购以供应商最新规格书、具体料号和技术协议为准。
| 参数项 | 数值 |
|---|---|
| 品牌 | ZEISS（蔡司） |
| 型号 | GeminiSEM 560 |
| 显微镜类型 | 场发射扫描电子显微镜 FE-SEM |
| 电子光学 | Gemini 3 Nano-twin |
| 低电压分辨率 | 低于 1 kV 时亚纳米级 |
| 放大范围 | 低于 1× 至约 2,000,000× |
| 样品磁场 | 约 1 mT 量级 |
| 自动化 | Smart Autopilot |
品牌ZEISS平台电镜/Cryo-EM/FIB-SEM型号GeminiSEM 560
配置清单
询价前需要确认的配置项
- 设备主机及核心成像/检测模块
- 电子束、离子束、X射线或光学组件
- 样品台、卡盘、夹具或自动装载模块
- 探测器、相机及分析附件
- 控制电脑、工作站和数据存储
- 采集、重建、分析或工艺仿真软件
- 隔振、排风、冷却、气体或安全设施
- 安装调试、方法开发、验收和培训
代理服务
选型与交付支持
可协助需求梳理、样品测试、方法评估、配置核对、安装培训及售后对接；授权、价格、交期和供货范围以正式商务确认为准。
应用场景
哪些需求适合优先评估这个型号
半导体表面与失效分析
纳米和能源材料
磁性与非导电样品
高分辨 STEM/SEM 成像
资料依据
页面内容以品牌方公开资料、产品参数和售前配置复核为基础。正式价格、授权关系、供货周期和最终配置以商务确认为准。
资料核验：2026-09-01