蔡司Versa高级三维X射线显微镜（XRM）

产品简介

蔡司Versa系列X射线显微镜(XRM)，亚微米级三维X射线无损扫描成像解决方案，凭借创新的X射线源加光学放大量级成像架构与RaaD大工作距离高分辨率技术，突破传统microCT技术局限，在大工作距离下也能实现450-500nm的真实空间分辨率。系列包含三款机型：VersaXRM 730、VersaXRM 615、Xradia 515 Versa。搭载AI驱动的 DeepRecon Pro深度学习重建技术与ZEN navx智能导航系统。利用快速扫描模式Fast mode可实现一分钟快速采集扫描，支持4D原位动态观测与多尺度关联成像。广泛应用于材料科学(能源材料/金属材料/复合材料/高分子材料/陶瓷/仿生和生物医用材料等)、半导体封装失效分析、电池研究和检测、增材制造检测、地质油气、古生物、工业质量控制、生物制药及生命科学领域，为前沿科研探索与工业检测提供坚实技术支撑。

支持按工艺目标、样本类型与通量要求进行选型建议。