ZEISS Xradia 620 Versa 三维X射线显微镜

产品概述

ZEISS Xradia 620 Versa 是实验室三维 X 射线显微镜，采用几何放大与显微镜物镜二级放大架构，在较大工作距离下仍保持高空间分辨率。系统适合对不透明样品进行无损断层成像，并支持多尺度侦察、局部高分辨扫描和原位实验。

ZEISS Xradia 620 Versa 三维X射线显微镜 对应型号为 Xradia 620 Versa。内容依据制造商公开产品资料整理，突出系统原理、能力边界和适用场景，便于技术人员进行初步方案比较。

核心特点

• 空间分辨率：最高 0.5 µm。
• 最小体素：40 nm。
• RaaD 分辨率：50 mm 工作距离下 1.0 µm。
• 成像方式：吸收衬度三维断层成像。
• 放大架构：几何放大加光学物镜二级放大。
• 视野扩展：宽视野与垂直拼接可选。
• 自动上样：Autoloader 可选。
• 工作流程：Scout-and-Scan。
• 原位能力：支持多种原位样品环境。

典型应用

先进封装、电子器件、复合材料、地质、增材制造、电池、生命科学样品及原位加载或温控研究。

建立应用流程时，应结合样品尺寸、材料组成、目标结构尺度、检测节拍、数据分析和自动化接口确定测量方案。

选型提示

选型时建议逐项确认分辨率或量测范围、样品兼容性、成像或仿真模式、探测与分析模块、软件版本、自动化程度及现场条件。属于选件的模块应按实际任务单独确认。