蔡司 ZEISS Xradia 810 Ultra 纳米X射线显微镜

产品概述

实验室纳米级 X 射线显微镜，可在样品原生环境下进行无损二维和三维成像，空间分辨率最低约 50 nm、体素最低约 16 nm，支持三维及四维原位研究。

核心特点

• 无损纳米级二维和三维 X 射线成像
• 空间分辨率最低约 50 nm
• 体素尺寸最低约 16 nm
• 支持三维/四维原位和定量结构分析

典型应用

适用于电池电极、半导体、纳米多孔材料、催化剂、复合材料和生物样品的内部纳米结构成像。

选型提示

确认样品材料、厚度、目标分辨率、吸收/相衬模式、视野和原位环境，并比较 Xradia 800 Ultra 与 810 Ultra 配置。

配置与合规说明

页面依据供应商公开资料整理。实际性能受具体配置、样品、环境、软件和应用方法影响，正式采购以供应商最新规格书、具体料号和技术协议为准。