技术文章
原子力显微与表面纳米计量选型要点
说明AFM在材料、半导体和生命科学样品中的模式选择、样品台、探针和环境控制关注点。
阅读全文产品简介
适用于大型或多样品的高性能原子力显微镜,提供约 90 × 90 μm 扫描范围、低于 30 pm RMS 垂直噪声和丰富的形貌、力学、电学及磁学模式。
适用于大型或多样品的高性能原子力显微镜,提供约 90 × 90 μm 扫描范围、低于 30 pm RMS 垂直噪声和丰富的形貌、力学、电学及磁学模式。
适用于材料、半导体、聚合物、电池、生物、纳米器件和二维材料的高分辨形貌及多物性研究。
确认样品尺寸、扫描范围、液相/环境需求,以及 PeakForce QNM、电学、磁学、压电或纳米加工等扩展模式。
页面依据供应商公开资料整理。实际性能受型号配置、光学组件、样品、环境和软件选件影响,正式采购以供应商最新规格书、具体料号和技术协议为准。
| 参数项 | 数值 |
|---|---|
| 品牌 | Bruker(布鲁克) |
| 型号 | Dimension Icon |
| XY 扫描范围 | 约 90 × 90 μm |
| Z 范围 | 约 10 μm |
| 垂直噪声 | <30 RMS pm |
| 最大样品直径 | 210 mm |
| 最大样品厚度 | 15 mm |
| 可检查区域 | 180 × 150 mm |
| 光学相机 | 5 MP |
选型判断
配置清单
代理服务
可协助需求梳理、样品测试、方法评估、配置核对、安装培训及售后对接;授权、价格、交期和供货范围以正式商务确认为准。
应用场景
高分辨表面形貌
定量纳米力学
纳米电学与磁学
材料和器件研究
资料依据
页面内容以品牌方公开资料、产品参数和售前配置复核为基础。正式价格、授权关系、供货周期和最终配置以商务确认为准。
资料核验:2026-09-01