布鲁克 Bruker Dimension XR 高端扫描探针显微镜

产品概述

面向纳米力学、纳米电学和纳米电化学研究的高性能扫描探针显微镜平台，提供不同专用配置，并支持 PeakForce、DataCube、SECM 和 AFM-nDMA 等模式。

核心特点

• 纳米力学、纳米电学和纳米电化学专用配置
• Icon 扫描头 XY 范围不低于 90 × 90 μm
• 垂直噪声低至约 30 pm RMS
• 支持最高 210 mm 样品和多点自动定位

典型应用

适用于聚合物、半导体、二维材料、电池、燃料电池、腐蚀和功能材料的形貌、力学、电学及电化学纳米表征。

选型提示

应在 XR Nanomechanics、Nanoelectrical 和 NanoEC 配置间选择，并确认扫描头、液相、电学附件和样品环境。

配置与合规说明

页面依据供应商公开资料整理。实际性能受型号配置、光学组件、样品、环境和软件选件影响，正式采购以供应商最新规格书、具体料号和技术协议为准。