Bruker Dimension XR 高端扫描探针显微镜

产品概述

Bruker Dimension XR 是基于 Dimension Icon 或 FastScan 平台构建的高级扫描探针显微镜系列，提供纳米力学、纳米电学和纳米电化学三类预配置方案。系统结合 PeakForce Tapping、DataCube、AFM-nDMA 和 AFM-SECM，面向多物性关联表征。

Bruker Dimension XR 高端扫描探针显微镜 对应型号为 Dimension XR，本页参数按制造商当前公开产品页或规格资料逐项核对，便于方案比较和采购选型。

核心特点

• 平台：Dimension Icon 或 Dimension FastScan。
• 配置：XR Nanomechanics / Nanoelectrical / NanoEC。
• 核心成像：PeakForce Tapping。
• 纳米力学：AFM-nDMA、PeakForce QNM。
• 力谱映射：FASTForce Volume。
• 纳米电学：PeakForce TUNA、KPFM、DataCube。
• 电化学：EC-AFM、PeakForce SECM。
• 电化学空间分辨率：小于 100 nm。
• 工作环境：空气、液体及电化学环境。

典型应用

聚合物与复合材料、半导体和功能材料、电池与燃料电池、腐蚀、纳米电学、局部反应活性和多维力谱。

建立测量方案时，应结合样品材料、结构尺度、所需数据类型、测量节拍、自动化接口和环境控制条件确定配置。

选型提示

建议重点确认光谱或扫描范围、样品尺寸、空间分辨率、重复性、测量速度、分析软件、自动平台和所需附件。扩展波段、探测器、样品台与应用模块可能属于选件，应按具体料号核对。