技术文章
原子力显微与表面纳米计量选型要点
说明AFM在材料、半导体和生命科学样品中的模式选择、样品台、探针和环境控制关注点。
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产品简介
集成自动校准与智能测量流程的共焦拉曼显微镜,适合快速材料鉴定、化学成像和常规科研分析。
集成自动校准与智能测量流程的共焦拉曼显微镜,适合快速材料鉴定、化学成像和常规科研分析。
| 参数项 | 数值 |
|---|---|
| 品牌 | Bruker |
| 型号 | SENTERRA II |
| 系统类型 | 共焦多激光拉曼成像显微镜 |
| 校准技术 | SURE_CAL 波长校准 |
| 采集模式 | 支持针对速度或空间分辨率优化的多种采集模式 |
| 激光安全 | 可配置 Class 1 激光安全罩 |
| 自动化 | 自动切换激光、光栅和滤光片并执行系统校准 |
| 显微成像 | 共焦拉曼光谱、点测量和拉曼成像 |
| 样品观察 | 集成光学显微观察与拉曼测量定位 |
| 软件平台 | OPUS 光谱采集、处理与数据管理 |
资料依据
页面内容以品牌方公开资料、产品参数和售前配置复核为基础。正式价格、授权关系、供货周期和最终配置以商务确认为准。
资料核验:2026-09-08