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共聚焦与超分辨成像系统如何选型
围绕共聚焦、转盘共聚焦、多光子、光片和超分辨系统,说明不同实验目标下的配置取舍。
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产品简介
用于微细表面三维形貌与粗糙度测量的激光扫描共聚焦显微镜,结合 405 nm 激光、双 16 位 PMT 和彩色 CMOS 成像,可无接触获取高密度高度数据。
LEXT OLS5000 是用于微米至纳米级表面形貌观察与非接触测量的三维激光共聚焦显微镜。405 nm 激光、双通道 16 位检测和高数值孔径专用物镜兼顾陡坡捕获、真实彩色成像与高度、粗糙度和轮廓分析。
Evident LEXT OLS5000 三维激光共聚焦显微镜 对应型号为 LEXT OLS5000。本页以制造商官方产品页、规格表或产品手册为依据,重点整理可用于技术比较的工作原理、结构特点与关键指标。
系统围绕光学成像、运动控制、三维数据采集和分析软件形成完整工作流程,可将观察、测量、结果复核与报告输出统一管理。
半导体、电子元件、精密加工、涂层、摩擦磨损、金属断口、聚合物、微结构、透明薄膜及粗糙度测量。
建立方法时应结合样品尺寸、表面反射或透明特性、目标结构尺度、所需测量范围和批量检测节拍设置采集条件。
选型应核对测量原理、倍率与视场、高度和横向分辨率、工作距离、样品行程、对比方式、自动化能力及软件模块。历史型号还需确认现行替代产品、附件兼容性与服务支持。
| 参数项 | 数值 |
|---|---|
| 品牌 | Olympus / Evident |
| 型号 | LEXT OLS5000 |
| 产品类型 | 三维激光共聚焦显微镜 |
| 总放大倍率 | 54×–17,280× |
| 视场范围 | 16–5120 µm |
| 激光波长 | 405 nm |
| 激光等级 | Class 2,最大 0.95 mW |
| 激光帧率 | 3.25–55.6 fps |
| 彩色帧率 | 30 fps |
| 检测器 | 双 16 位 PMT |
| 彩色相机 | 235 万像素 CMOS |
| 高度显示分辨率 | 0.5 nm |
| 线性标尺分辨率 | 0.78 nm |
| 高度测量准确度 | 测量值 ±1.5% |
| 测量噪声 | 1 nm |
| 最大单幅采样 | 4096 × 4096 点 |
| 最大拼接图像 | 3600 万像素 |
选型判断
配置清单
代理服务
可协助需求梳理、样品测试、方法评估、配置核对、安装培训及售后对接;授权、价格、交期和供货范围以正式商务确认为准。
应用场景
磨损与摩擦表面
半导体和MEMS
涂层与薄膜形貌
粗糙度和台阶测量
资料依据
页面内容以品牌方公开资料、产品参数和售前配置复核为基础。正式价格、授权关系、供货周期和最终配置以商务确认为准。
资料核验:2026-09-03