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型号: LEXT OLS5000

Evident LEXT OLS5000 三维激光共聚焦显微镜

Evident LEXT OLS5000 三维激光共聚焦显微镜

产品简介

用于微细表面三维形貌与粗糙度测量的激光扫描共聚焦显微镜,结合 405 nm 激光、双 16 位 PMT 和彩色 CMOS 成像,可无接触获取高密度高度数据。

型号LEXT OLS5000
品牌Evident / Olympus
分类半导体/薄膜/表面检测
电话联系 13422079856

产品概述

LEXT OLS5000 是用于微米至纳米级表面形貌观察与非接触测量的三维激光共聚焦显微镜。405 nm 激光、双通道 16 位检测和高数值孔径专用物镜兼顾陡坡捕获、真实彩色成像与高度、粗糙度和轮廓分析。

Evident LEXT OLS5000 三维激光共聚焦显微镜 对应型号为 LEXT OLS5000。本页以制造商官方产品页、规格表或产品手册为依据,重点整理可用于技术比较的工作原理、结构特点与关键指标。

核心特点

  • 总放大倍率:54×–17,280×。
  • 视场范围:16–5120 µm。
  • 激光波长:405 nm。
  • 激光等级:Class 2,最大 0.95 mW。
  • 激光帧率:3.25–55.6 fps。
  • 彩色帧率:30 fps。
  • 检测器:双 16 位 PMT。
  • 彩色相机:235 万像素 CMOS。
  • 高度显示分辨率:0.5 nm。
  • 线性标尺分辨率:0.78 nm。

系统围绕光学成像、运动控制、三维数据采集和分析软件形成完整工作流程,可将观察、测量、结果复核与报告输出统一管理。

典型应用

半导体、电子元件、精密加工、涂层、摩擦磨损、金属断口、聚合物、微结构、透明薄膜及粗糙度测量。

建立方法时应结合样品尺寸、表面反射或透明特性、目标结构尺度、所需测量范围和批量检测节拍设置采集条件。

选型提示

选型应核对测量原理、倍率与视场、高度和横向分辨率、工作距离、样品行程、对比方式、自动化能力及软件模块。历史型号还需确认现行替代产品、附件兼容性与服务支持。

型号LEXT OLS5000
分类半导体/薄膜/表面检测

选型与服务

LEXT OLS5000 选型与配置

咨询 Evident / Olympus LEXT OLS5000 的配置、供货周期与技术资料。

咨询配置与报价
品牌Evident / Olympus平台半导体/薄膜/表面检测型号LEXT OLS5000

选型判断

先确认这台仪器是否真正匹配你的实验目标

  • 明确样品类型、尺寸、材料和测量目标
  • 确认视野、倍率、横向及高度测量范围
  • 核对共聚焦、形状光、白光或数字成像原理
  • 确认镜头、物镜、照明和传感器配置
  • 评估样品台行程、工作距离和自动化需求
  • 确认三维分析、拼接、CAD比较及报告功能
  • 核对精度、重复性、校准和验收方法
  • 使用代表性样品验证测量能力和操作节拍

配置清单

询价前需要确认的配置项

  • 设备主机及核心光学测量模块
  • 镜头、物镜和电动物镜转盘
  • 激光、LED及多方向照明组件
  • 相机、PMT或图像采集模块
  • 样品台、夹具和自动对焦模块
  • 控制电脑、三维分析和报告软件
  • 隔振、遮光、温控及安装附件
  • 安装调试、方法开发、验收和培训

代理服务

选型与交付支持

可协助需求梳理、样品测试、方法评估、配置核对、安装培训及售后对接;授权、价格、交期和供货范围以正式商务确认为准。

应用场景

哪些需求适合优先评估这个型号

磨损与摩擦表面

半导体和MEMS

涂层与薄膜形貌

粗糙度和台阶测量

资料依据

页面内容以品牌方公开资料、产品参数和售前配置复核为基础。正式价格、授权关系、供货周期和最终配置以商务确认为准。

资料核验:2026-09-03
Evident:LEXT OLS5000