技术文章
光学三维轮廓与白光干涉选型要点
面向材料表面、精密加工和半导体封装,说明三维轮廓、白光干涉和激光显微测量的适配场景。
阅读全文
产品简介
采用 CFI60 无限远光学的正置工业材料显微镜平台,可用于明场、偏光及分散观察等材料分析任务,并提供精细调焦、旋转载物台和多种物镜配置。
Nikon ECLIPSE LV100ND LED 是灵活的模块化正置工业显微镜,可组合反射与透射观察。CFI60-2 光学系统覆盖明场、暗场、偏光、DIC、荧光、相差和双光束干涉等方法,并能把使用中的物镜信息传递给软件,便于规范化成像和测量记录。
Nikon ECLIPSE LV100ND LED 工业材料显微镜 的对应型号为 ECLIPSE LV100ND LED。页面内容依据制造商官方产品页或技术资料逐项核对,突出产品的真实结构、光学或测量原理以及可比较的关键指标。
系统可通过物镜、照明、载物台、相机、控制器和分析软件的合理组合,形成从观察、采集到定量分析和报告输出的完整工作流程。
金属与陶瓷组织、电子器件、晶圆、透明材料、薄膜、涂层、失效分析、质量控制以及需要反射和透射方式切换的综合材料研究。
针对批量检测或研究任务,可结合样品尺寸、表面反射特性、目标结构尺度、所需景深和测量节拍建立标准化方法。
选型时应优先确认倍率或测量范围、光学分辨率、工作距离、样品尺寸、对比方式、自动化程度、成像接口与软件分析能力。若涉及历史型号,还应同步确认当前供货状态、附件兼容性、软件版本及售后支持。
| 参数项 | 数值 |
|---|---|
| 品牌 | Nikon |
| 型号 | ECLIPSE LV100ND LED |
| 产品类型 | 正置工业材料显微镜 |
| 光学系统 | CFI60-2 模块化光学系统 |
| 结构 | 正置式,支持反射与透射观察 |
| 反射方法 | 明场、暗场、偏光、DIC、荧光、双光束干涉 |
| 透射方法 | 明场、暗场、偏光、DIC、相差 |
| 物镜转换器 | LV-NU5I 可检测物镜位置 |
| 信息接口 | LV-INAD 传递物镜信息 |
| 成像相机 | 兼容 Nikon Digital Sight |
| 分析软件 | 兼容 NIS-Elements |
| 组件系统 | 镜架、载物台、物镜、镜筒可模块配置 |
| 照明 | 高显色 LED 光源 |
| 照明控制 | 支持孔径与视场光阑调节 |
| 成像端口 | 可配置三目镜筒与数字相机 |
| 主要用途 | 材料表面及透射样品检查 |
| 扩展能力 | 支持多种对比附件与滤块 |
技术文章
面向材料表面、精密加工和半导体封装,说明三维轮廓、白光干涉和激光显微测量的适配场景。
阅读全文选型判断
配置清单
代理服务
可协助需求梳理、样品测试、方法评估、配置核对、安装培训及售后对接;授权、价格、交期和供货范围以正式商务确认为准。
应用场景
矿物和晶体分析
纤维与颗粒鉴别
金属和陶瓷材料
偏光与分散观察
资料依据
页面内容以品牌方公开资料、产品参数和售前配置复核为基础。正式价格、授权关系、供货周期和最终配置以商务确认为准。
资料核验:2026-09-02