技术文章
原子力显微与表面纳米计量选型要点
说明AFM在材料、半导体和生命科学样品中的模式选择、样品台、探针和环境控制关注点。
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产品简介
模块化研究级原子力显微镜,兼顾高分辨率形貌、多种物性模式和灵活的样品环境扩展。
模块化研究级原子力显微镜,兼顾高分辨率形貌、多种物性模式和灵活的样品环境扩展。
Oxford Instruments MFP-3D Origin+ 原子力显微镜主要用于多模式、可扩展研究级AFM表征。页面内容围绕设备能力、典型样品和实验工作流展开,便于科研平台及研发团队进行初步选型。
系统设计重点包括测量稳定性、空间或时间分辨率、精确定位、自动化操作和数据可重复性。选型时应将主机、探针或光路、扫描器、样品台、环境控制、隔振及分析软件作为完整配置评估。
材料表面、聚合物、二维材料、纳米力学、电学、磁学及液体测量。建议选择具有代表性的标准样品与真实样品进行测试,并记录采集速度、信噪比、漂移、重复性和后处理步骤。
采购前应明确样品尺寸与形态、目标结构尺度、测量模式、成像面积、环境条件、自动化程度和连续运行要求。涉及联用、批量任务或特殊环境时,还应逐项确认载具、接口、附件及软件许可。
建议建立样品准备、系统校准、参数模板、自动采集、质量检查、数据校正、定量分析和原始数据归档流程。验收时使用约定标准样品和典型任务,分别核对定位精度、背景噪声、漂移及结果一致性。
| 参数项 | 数值 |
|---|---|
| 品牌 | Oxford Instruments Asylum Research |
| 型号 | MFP-3D Origin+ |
| 系统类型 | 研究级原子力显微镜 |
| 扫描架构 | 独立 XY 与 Z 传感闭环扫描 |
| 高度测量 | Z 位置传感器直接测量形貌,降低压电非线性影响 |
| 力测量 | 支持低噪声力曲线、力映射及纳米力学测量 |
| 标准成像 | 接触、轻敲、相位及力谱模式 |
| 电学模式 | KPFM、PFM、导电 AFM 等(依配置) |
| 环境附件 | 支持加热、液体、电化学及受控环境附件 |
| 光热激励 | 支持 blueDrive 光热轻敲激励(选配) |
| 控制软件 | Asylum Research AFM 控制与分析软件 |
| 升级能力 | 兼容完整 MFP-3D 附件与模式系列 |
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说明AFM在材料、半导体和生命科学样品中的模式选择、样品台、探针和环境控制关注点。
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页面内容以品牌方公开资料、产品参数和售前配置复核为基础。正式价格、授权关系、供货周期和最终配置以商务确认为准。
资料核验:2026-09-08